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講演抄録/キーワード
講演名 2015-01-29 14:45
NANDフラッシュメモリとストレージクラスメモリを用いたハイブリッドSSDの信頼性と性能の関係解析
瀧下博文中大)・田中丸周平中大/東大)・保坂翔吾上口 光竹内 健中大ICD2014-111 エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2014-111
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文献情報 信学技報, vol. 114, no. 436, ICD2014-111, pp. 7-12, 2015年1月.
資料番号 ICD2014-111 
発行日 2015-01-22 (ICD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
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研究会情報
研究会 ICD IPSJ-ARC  
開催期間 2015-01-29 - 2015-01-30 
開催地(和) 慶應義塾大学 日吉キャンパス 
開催地(英)  
テーマ(和) 集積回路とアーキテクチャの協創「ロボット,ヒューマノイド,AI技術および一般」 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ICD 
会議コード 2015-01-ICD-ARC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) NANDフラッシュメモリとストレージクラスメモリを用いたハイブリッドSSDの信頼性と性能の関係解析 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Analysis of Relation between Performance and Reliability of NAND Flash memory/Storage-class memory Hybrid SSD 
サブタイトル(英)  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 瀧下 博文 / Hirofumi Takishita / タキシタ ヒロフミ
第1著者 所属(和/英) 中央大学 (略称: 中大)
Chuo Univercity (略称: Chuo Univ)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 田中丸 周平 / Shuhei Tanakamaru / タナカマル シュウヘイ
第2著者 所属(和/英) 中央大学/東京大学 (略称: 中大/東大)
Chuo Univercity/University of Tokyo (略称: Chuo Univ/Univ. of Tokyo)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 保坂 翔吾 / Shogo Hosaka / ホサカ ショウゴ
第3著者 所属(和/英) 中央大学 (略称: 中大)
Chuo Univercity (略称: Chuo Univ)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 上口 光 / Koh Johguchi / ジョウグチ コウ
第4著者 所属(和/英) 中央大学 (略称: 中大)
Chuo Univercity (略称: Chuo Univ)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 竹内 健 / Ken Takeuchi / タケウチ ケン
第5著者 所属(和/英) 中央大学 (略称: 中大)
Chuo Univercity (略称: Chuo Univ)
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講演者
発表日時 2015-01-29 14:45:00 
発表時間 30 
申込先研究会 ICD 
資料番号 IEICE-ICD2014-111 
巻番号(vol) IEICE-114 
号番号(no) no.436 
ページ範囲 pp.7-12 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-ICD-2015-01-22 


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