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講演抄録/キーワード
講演名 2015-01-23 15:50
意図的な電磁妨害波によって発生するオーバークロックの検出方法に関する検討
長尾 篤奥川雄一郎高谷和宏NTT)・林 優一本間尚文青木孝文東北大EMCJ2014-100
抄録 (和) LSIモジュールは,供給されるクロック信号の周期が乱れるオーバークロックにより誤作動することが知られている.電磁妨害波がLSIモジュールに侵入する場合も主にオーバークロックによって誤作動が生じている可能性がある.本稿では,LSIモジュールのイミュニティ向上のためには,誤作動を引き起こす支配的要因を明確にすることが重要であるとの観点から,LSIモジュール内部にオーバークロックの発生を検出する判定回路を実装する手法を提案するとともに,本手法を用いて,電磁妨害波印加時のオーバークロック発生の有無を検証した.具体的には,クロック信号に意図的なグリッチを挿入した場合,および無変調連続波 (CW)を印加した場合についてオーバークロックの発生の有無を評価した.その結果,グリッチ挿入時の判定回路の出力からオーバークロック発生の有無を正確に判定可能であることが確認された.また,CWを印加した検証においては,CWがLSIモジュール内部を伝達し,クロック信号に重畳しやすい周波数において,オーバークロックに起因すると考えられる判定回路の出力が確認された.このときのクロック信号の時間波形を観測したところ,CWが重畳することによって発生するクロック信号の不正な電圧変動に起因して見かけ上のクロック周期が変化し,オーバークロックが引き起こされていることが明らかとなった. 
(英) Overclocking, which occurs because of the disruption of the clock frequency, causes LSI modules to malfunction. The Electromagnetic interference can also cause an LSI module to malfunction owing to overclocking. On the other hand, the clarification of malfunction factors is required to increase the immunity of LSI modules. With that, this paper proposes a method for detecting overclocking when electromagnetic interference is applied; the presence of overclocking is determined based on the output results from an evaluation circuit, which is installed in an LSI module. Further, experiments were conducted for a case in which glitches were introduced into the clock signal and another case where a continuous wave was applied, to examine the validity of the proposed method. As a result, we confirm that the evaluation circuit can correctly determine if overclocking is occurred or not. In addition, we confirm the outputs of the evaluation circuit that indicated the occurrence of overclocking when a continuous wave was injected. And, the change of the clock cycle was confirmed by fluctuation in voltage which is occurred by overlapping CW from observation of clock signal. Therefore, the evaluation circuit proposed in this paper was confirmed to be useful in detecting the overclocking.
キーワード (和) LSIモジュール / 意図的な電磁妨害波 / オーバークロック / グリッチ / 無変調連続波 / / /  
(英) LSI module / Intentional electromagnetic interference / Overclocking / Glitch / Continuous wave / / /  
文献情報 信学技報, vol. 114, no. 398, EMCJ2014-100, pp. 83-88, 2015年1月.
資料番号 EMCJ2014-100 
発行日 2015-01-15 (EMCJ) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード EMCJ2014-100

研究会情報
研究会 EMCJ WPT  
開催期間 2015-01-22 - 2015-01-23 
開催地(和) 沖縄県市町村自治会館 
開催地(英) Okinawaken Jichikaikan 
テーマ(和) 通信,無線電力伝送,EMC 一般 
テーマ(英) Communication, Wireless Power Transmission, EMC, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMCJ 
会議コード 2015-01-EMCJ-WPT 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 意図的な電磁妨害波によって発生するオーバークロックの検出方法に関する検討 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Study on detection method for clock error due to intentional electromagnetic interference 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) LSIモジュール / LSI module  
キーワード(2)(和/英) 意図的な電磁妨害波 / Intentional electromagnetic interference  
キーワード(3)(和/英) オーバークロック / Overclocking  
キーワード(4)(和/英) グリッチ / Glitch  
キーワード(5)(和/英) 無変調連続波 / Continuous wave  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 長尾 篤 / Atsushi Nagao / ナガオ アツシ
第1著者 所属(和/英) 日本電信電話株式会社 (略称: NTT)
Nippon Telegraph and Telephone Corporation (略称: NTT)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 奥川 雄一郎 / Yuichiro Okugawa / オクガワ ユウイチロウ
第2著者 所属(和/英) 日本電信電話株式会社 (略称: NTT)
Nippon Telegraph and Telephone Corporation (略称: NTT)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 高谷 和宏 / Kazuhiro Takaya / タカヤ カズヒロ
第3著者 所属(和/英) 日本電信電話株式会社 (略称: NTT)
Nippon Telegraph and Telephone Corporation (略称: NTT)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 林 優一 / Yu-ichi Hayashi / ハヤシ ユウイチ
第4著者 所属(和/英) 東北大学 (略称: 東北大)
Tohoku University (略称: Tohoku Univ.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 本間 尚文 / Naofumi Homma / ホンマ ナオフミ
第5著者 所属(和/英) 東北大学 (略称: 東北大)
Tohoku University (略称: Tohoku Univ.)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 青木 孝文 / Takafumi Aoki / アオキ タカフミ
第6著者 所属(和/英) 東北大学 (略称: 東北大)
Tohoku University (略称: Tohoku Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2015-01-23 15:50:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 EMCJ 
資料番号 EMCJ2014-100 
巻番号(vol) vol.114 
号番号(no) no.398 
ページ範囲 pp.83-88 
ページ数
発行日 2015-01-15 (EMCJ) 


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