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講演抄録/キーワード
講演名 2015-01-22 14:15
高磁場耐性HTS-SQUIDマグネトメータを用いた非破壊検査装置の開発
廿日出 好近畿大)・田中三郎豊橋技科大SCE2014-57 エレソ技報アーカイブへのリンク:SCE2014-57
抄録 (和) 我々は,SQUID非破壊検査技術の実用化のため,通常磁場環境中でも安定動作するHTS-SQUIDの開発を行ってきた.今回,超伝導シールドとしてメッシュ構造をもつHTS薄膜をフリップチップ積層したメッシュ入りHTS-SQUIDマグネトメータを設計・作製し,クライオスタットにマウントした.このクライオスタットを,非破壊検査装置に組み込んだロボットアームに搭載し,通常環境中でSQUIDを移動させた際の特性を計測・評価した.移動時にSQUIDに鎖交する低周波数磁場変動をキャンセルするため,一次LPFを用いたアクティブ磁気シールド技術を適用した結果,FLL回路のロックが外れることなくSQUIDを地磁気中で移動させることができた.この装置を用いて,厚さ5 mmのアルミ板の裏側に作製した人工欠陥の検出を行った.HTS-SQUIDグラジオメータを用いた場合と比較して,マグネトメータのほうが深部欠陥検出に適することを実証した. 
(英) We have been developing robust HTS-SQUID magnetometers that can be operated stably in unshielded environments for practical SQUID-NDE. In this work, we designed and fabricated a meshed-structured HTS-SQUID magnetometer, which was covered by the same mesh-structured alternative HTS film in flip-chip configuration as a superconducting film shield. The magnetometer was mounted in a compact cryostat, which was integrated with a robot arm of an SQUID-NDE system that we have developed. Noise performance of the SQUID, which was moved by the robot-arm while utilizing an active magnetic shielding scheme, was measured in an unshielded environment. Using a first-order low-pass filter (LPF) in the active magnetic shielding, the magnetometer was stably operated while the SQUID was moved at 20 mm/s. Finally, detection of deep-lying defects on far surface of an aluminum plate sample was demonstrated and experimental results clarified the superior ability of the magnetometer to detect deep-lying defect to the HTS-SQUID gradiometer.
キーワード (和) HTS-SQUIDマグネトメータ / 磁場耐性 / 超伝導薄膜シールド / アクティブシールド / 非破壊検査 / / /  
(英) HTS-SQUID magnetometer / Robust in unshielded environment / HTS film / Active shielding / NDE / / /  
文献情報 信学技報, vol. 114, no. 406, SCE2014-57, pp. 49-53, 2015年1月.
資料番号 SCE2014-57 
発行日 2015-01-15 (SCE) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード SCE2014-57 エレソ技報アーカイブへのリンク:SCE2014-57

研究会情報
研究会 SCE  
開催期間 2015-01-22 - 2015-01-22 
開催地(和) 機械振興会館地下3階1号室 
開催地(英) Kikaishinkou-kaikan 
テーマ(和) 薄膜、デバイス技術及びその応用、一般 
テーマ(英) Thin film, device technologies and their applications, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 SCE 
会議コード 2015-01-SCE 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 高磁場耐性HTS-SQUIDマグネトメータを用いた非破壊検査装置の開発 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Development of Nondestructive Evaluation System Utilizing Robust HTS-SQUID Magnetometer in Unshielded Environment 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) HTS-SQUIDマグネトメータ / HTS-SQUID magnetometer  
キーワード(2)(和/英) 磁場耐性 / Robust in unshielded environment  
キーワード(3)(和/英) 超伝導薄膜シールド / HTS film  
キーワード(4)(和/英) アクティブシールド / Active shielding  
キーワード(5)(和/英) 非破壊検査 / NDE  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 廿日出 好 / Yoshimi Hatsukade / ハツカデ ヨシミ
第1著者 所属(和/英) 近畿大学 (略称: 近畿大)
Kinki University (略称: Kinki Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 田中 三郎 / Saburo Tanaka / タナカ サブロウ
第2著者 所属(和/英) 豊橋技術科学大学 (略称: 豊橋技科大)
Toyohashi University of Technology (略称: TUT)
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講演者 第1著者 
発表日時 2015-01-22 14:15:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 SCE 
資料番号 SCE2014-57 
巻番号(vol) vol.114 
号番号(no) no.406 
ページ範囲 pp.49-53 
ページ数
発行日 2015-01-15 (SCE) 


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