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講演抄録/キーワード
講演名
2015-01-22 11:35
[招待講演]単一磁束量子時間測定回路と超伝導ストリップイオン検出器を用いた超伝導質量分析システムの実装と評価
○
佐野京佑
・
村松祐希
・
下田知毅
・
山梨裕希
・
吉川信行
(
横浜国大
)・
全 伸幸
・
大久保雅隆
(
産総研
)
SCE2014-53
エレソ技報アーカイブへのリンク:
SCE2014-53
抄録
(和)
(まだ登録されていません)
(英)
(Not available yet)
キーワード
(和)
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(英)
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文献情報
信学技報, vol. 114, no. 406, SCE2014-53, pp. 25-29, 2015年1月.
資料番号
SCE2014-53
発行日
2015-01-15 (SCE)
ISSN
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード
SCE2014-53
エレソ技報アーカイブへのリンク:
SCE2014-53
研究会情報
研究会
SCE
開催期間
2015-01-22 - 2015-01-22
開催地(和)
機械振興会館地下3階1号室
開催地(英)
Kikaishinkou-kaikan
テーマ(和)
薄膜、デバイス技術及びその応用、一般
テーマ(英)
Thin film, device technologies and their applications, etc.
講演論文情報の詳細
申込み研究会
SCE
会議コード
2015-01-SCE
本文の言語
日本語
タイトル(和)
単一磁束量子時間測定回路と超伝導ストリップイオン検出器を用いた超伝導質量分析システムの実装と評価
サブタイトル(和)
タイトル(英)
Implementation and Evaluation of a Superconducting Mass Spectrometry System using a Single-Flux-Quantum Time-to-Digital Converter and a Superconducting Strip Ion Detector
サブタイトル(英)
キーワード(1)(和/英)
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キーワード(2)(和/英)
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キーワード(3)(和/英)
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キーワード(4)(和/英)
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キーワード(5)(和/英)
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キーワード(6)(和/英)
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キーワード(7)(和/英)
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キーワード(8)(和/英)
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ)
佐野 京佑
/
Kyosuke Sano
/
サノ キョウスケ
第1著者 所属(和/英)
横浜国立大学
(略称:
横浜国大
)
Yokohama National University
(略称:
Yokohama National Univ.
)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ)
村松 祐希
/
Yuki Muramatsu
/
ムラマツ ユウキ
第2著者 所属(和/英)
横浜国立大学
(略称:
横浜国大
)
Yokohama National University
(略称:
Yokohama National Univ.
)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ)
下田 知毅
/
Tomoki Shimoda
/
シモダ トモキ
第3著者 所属(和/英)
横浜国立大学
(略称:
横浜国大
)
Yokohama National University
(略称:
Yokohama National Univ.
)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ)
山梨 裕希
/
Yuki Yamanashi
/
ヤマナシ ユウキ
第4著者 所属(和/英)
横浜国立大学
(略称:
横浜国大
)
Yokohama National University
(略称:
Yokohama National Univ.
)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ)
吉川 信行
/
Nobuyuki Yoshikawa
/
ヨシカワ ノブユキ
第5著者 所属(和/英)
横浜国立大学
(略称:
横浜国大
)
Yokohama National University
(略称:
Yokohama National Univ.
)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ)
全 伸幸
/
Nobuyuki Zen
/
ゼン ノブユキ
第6著者 所属(和/英)
産業技術総合研究所
(略称:
産総研
)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
(略称:
AIST
)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ)
大久保 雅隆
/
Masataka Ohkubo
/
オオクボ マサタカ
第7著者 所属(和/英)
産業技術総合研究所
(略称:
産総研
)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
(略称:
AIST
)
第8著者 氏名(和/英/ヨミ)
/ /
第8著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第9著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第9著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第10著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第10著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第11著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第11著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ)
/ /
第12著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ)
/ /
第13著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ)
/ /
第14著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ)
/ /
第15著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第16著者 氏名(和/英/ヨミ)
/ /
第16著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第17著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第17著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第18著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第18著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第19著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第20著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
講演者
第1著者
発表日時
2015-01-22 11:35:00
発表時間
25分
申込先研究会
SCE
資料番号
SCE2014-53
巻番号(vol)
vol.114
号番号(no)
no.406
ページ範囲
pp.25-29
ページ数
5
発行日
2015-01-15 (SCE)
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