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講演抄録/キーワード
講演名 2014-12-19 14:30
Degradation phenomenon of electrical contacts by using a micro-sliding mechanism -- The comparison with input waveforms concerning of minimal sliding amplitudes under some conditions (4) --
Shin-ichi Wada・○Keiji KoshidaHiroaki KubotaTMC)・Koichiro SawaNippon Inst. of Tech.エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2014-96
抄録 (和) (まだ登録されていません) 
(英) Authors have studied degradation phenomenon on contact resistance under the influences of an external micro-oscillation. They have developed a hammering oscillating mechanism (HOM) or a micro-sliding mechanism 1 (MSM1) which provides micro-oscillations for electrical contacts. It is shown that each mechanism is able to simulate an actual degradation phenomenon on electrical contacts. And they have also developed another mechanism, namely a micro-sliding mechanism 2 (MSM2) which provides micro-sliding driven by a piezo-electric actuator and elastic hinges, which has more precise sliding performance, less thermal drift on sliding amplitude, and smaller sized system constituted of commercial parts.

In this paper, they obtain the experimental results of minimal sliding amplitudes to make resistances fluctuate on electrical contacts under some conditions which are three types of input waveforms which are sinusoidal, rectangular, and impulsive, three levels of frictional force which are usual (1.6N/pin), middle (1.0N/pin), and smaller (0.3N/pin) between a male-pin and a female-part using the MSM2.

In addition, they compare the differences on the minimal sliding amplitudes among the above conditions by means of dispersion analysis on statistical test on the degradation phenomenon of electrical contacts. Consequently they obtain that the larger the frictional force is the larger the minimal sliding amplitude is, and they also obtain that the amplitudes are larger in sinusoidal input than in rectangular one and are larger in rectangular input than in impulsive one.
キーワード (和) / / / / / / /  
(英) electrical contact / micro-oscillation / micro-sliding / elastic hinge / input waveform / frictional force / minimal sliding amplitude / statistical analysis  
文献情報 信学技報, vol. 114, no. 382, EMD2014-96, pp. 7-12, 2014年12月.
資料番号 EMD2014-96 
発行日 2014-12-12 (EMD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)

研究会情報
研究会 EMD  
開催期間 2014-12-19 - 2014-12-19 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg 
テーマ(和) 一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMD 
会議コード 2014-12-EMD 
本文の言語 英語 
タイトル(和)  
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Degradation phenomenon of electrical contacts by using a micro-sliding mechanism 
サブタイトル(英) The comparison with input waveforms concerning of minimal sliding amplitudes under some conditions (4) 
キーワード(1)(和/英) / electrical contact  
キーワード(2)(和/英) / micro-oscillation  
キーワード(3)(和/英) / micro-sliding  
キーワード(4)(和/英) / elastic hinge  
キーワード(5)(和/英) / input waveform  
キーワード(6)(和/英) / frictional force  
キーワード(7)(和/英) / minimal sliding amplitude  
キーワード(8)(和/英) / statistical analysis  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 和田 真一 / Shin-ichi Wada / ワダ シンイチ
第1著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 越田 圭治 / Keiji Koshida / コシダ ケイジ
第2著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 久保田 洋彰 / Hiroaki Kubota / クボタ ヒロアキ
第3著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 澤 孝一郎 / Koichiro Sawa /
第4著者 所属(和/英) 日本工業大学 (略称: 日本工大)
Nippon Institute of Technology (略称: Nippon Inst. of Tech.)
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講演者
発表日時 2014-12-19 14:30:00 
発表時間 25 
申込先研究会 EMD 
資料番号 IEICE-EMD2014-96 
巻番号(vol) IEICE-114 
号番号(no) no.382 
ページ範囲 pp.7-12 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-EMD-2014-12-12 


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