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講演抄録/キーワード
講演名 2014-12-19 14:55
微摺動機構およびハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ~ 微摺動に衝撃加振を加えることの効果 ~
和田真一・○岩本紘樹越田圭治久保田洋彰TMCシステム)・澤 孝一郎日本工大エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2014-97
抄録 (和) 著者らは,鉛直方向のハンマリング加振によって,電気接点に,繰り返し過渡的外力を与えることのできるシステム(ハンマリング加振システム)を設計・開発し,さらにこれを用いて減衰的微小振動の影響に関する解析を行ってきた.そして,接触抵抗の時系列変動を計測し,この微小振動が電気接点に与える影響に関する指摘を行ってきた.
また,磁歪アクチュエータと並行板バネを用いることより,電子デバイス界面を直接的に摺動させることができるシステム(精密微摺動システム)を設計・開発し,さらにこれを用いて過渡的摺動の影響に関する解析を行ってきた.そして,接触抵抗の時系列変動を計測し,この微小摺動が電気接点に与える影響に関する指摘を行ってきた
本論文では,定常的に微小摺動が与えられている環境に曝露されている電気接点に,過渡的な擬衝撃的外力を加えることによって,電気接点の劣化現象を考察する. 
(英) Authors have designed and developed a hammering oscillation system which gives transient external-force repeatedly to electrical contacts by hammering in the vertical direction.
They have analysed an effects of the damped micro-oscillation by the system and have indicated that there is the effect applied to the electrical contacts by the oscillation by means of measuring time-series fluctuation of the contact resistance.
And they have also designed and developed a micro-sliding system which slides the interfaces of electrical devices directly by a magneto-strictive actuator and parallel-leaf springs.
They have analysed another effect of the transient sliding by the system and have also indicated that there is the effect applied to the electrical contacts by the micro-sliding by means of measuring time-series fluctuation of the contact resistance.
In this paper, the authors discuss the degradation phenomenon of electrical contacts by adding transient and quasi-impulsive external-force to the contact in the circumstance that there is micro-sliding constantly.
キーワード (和) 電気接点 / 微小振動 / ハンマリング加振システム / 精密微摺動システム / 最小摺動振幅 / 有効質量 / 有効加速度 / 最小衝撃加速度  
(英) electrical contact / micro-oscillation / hammering oscillation system / micro-sliding system / minimal sliding amplitude / effective mass / effective acceleration / minimal impulsive acceleration  
文献情報 信学技報, vol. 114, no. 382, EMD2014-97, pp. 13-18, 2014年12月.
資料番号 EMD2014-97 
発行日 2014-12-12 (EMD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)

研究会情報
研究会 EMD  
開催期間 2014-12-19 - 2014-12-19 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg 
テーマ(和) 一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMD 
会議コード 2014-12-EMD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 微摺動機構およびハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 
サブタイトル(和) 微摺動に衝撃加振を加えることの効果 
タイトル(英) Degradation phenomenon of electrical contacts by using a micro-sliding mechanism and a hammering oscillation mechanism 
サブタイトル(英) The effect of adding quasi-impulsive oscillation to micro-sliding 
キーワード(1)(和/英) 電気接点 / electrical contact  
キーワード(2)(和/英) 微小振動 / micro-oscillation  
キーワード(3)(和/英) ハンマリング加振システム / hammering oscillation system  
キーワード(4)(和/英) 精密微摺動システム / micro-sliding system  
キーワード(5)(和/英) 最小摺動振幅 / minimal sliding amplitude  
キーワード(6)(和/英) 有効質量 / effective mass  
キーワード(7)(和/英) 有効加速度 / effective acceleration  
キーワード(8)(和/英) 最小衝撃加速度 / minimal impulsive acceleration  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 和田 真一 / Shin-ichi Wada / ワダ シンイチ
第1著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 岩本 紘樹 / Hiroki Iwamoto / イワモト ヒロキ
第2著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 越田 圭治 / Keiji Koshida / コシダ ケイジ
第3著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 久保田 洋彰 / Hiroaki Kubota / クボタ ヒロアキ
第4著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 澤 孝一郎 / Koichiro Sawa / サワ コウイチロウ
第5著者 所属(和/英) 日本工業大学 (略称: 日本工大)
Nippon Institute of Technoligy (略称: Nippon Inst. of Tech.)
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講演者
発表日時 2014-12-19 14:55:00 
発表時間 25 
申込先研究会 EMD 
資料番号 IEICE-EMD2014-97 
巻番号(vol) IEICE-114 
号番号(no) no.382 
ページ範囲 pp.13-18 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-EMD-2014-12-12 


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