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講演抄録/キーワード
講演名 2014-11-30 15:15
Degradation phenomenon of electrical contacts by using a micro-sliding mechanism -- The comparison with input waveforms concerning of minimal sliding amplitudes under some conditions (3) --
Shin-ichi WadaKeiji KoshidaHiroaki KubotaTMC System)・Koichiro SawaNippon Inst. of Tech.EMD2014-92 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2014-92
抄録 (和) Authors have studied degradation phenomenon on contact resistance under the influences of an external micro-oscillation. They have developed a hammering oscillating mechanism (HOM) or a micro-sliding mechanism 1 (MSM1) which provides micro-oscillations for electrical contacts. It is shown that each mechanism is able to simulate an actual degradation phenomenon on electrical contacts. And they have also developed another mechanism, namely a micro-sliding mechanism 2 (MSM2) which provides micro-sliding driven by a piezo-electric actuator and elastic hinges, which has more precise sliding performance, less thermal drift on sliding amplitude, and smaller sized system constituted of commercial parts.
In this paper, they obtain the experimental results of minimal sliding amplitudes to make resistances fluctuate on electrical contacts under some conditions which are three types of input waveforms which are sinusoidal, rectangular, and impulsive, three levels of frictional force which are usual (1.6N/pin), middle (1.0N/pin), and smaller (0.3N/pin) between a male-pin and a female-part using the MSM2.
In addition, they compare the differences on the minimal sliding amplitudes among the above conditions by means of dispersion analysis on statistical test on the degradation phenomenon of electrical contacts. Consequently they obtain that the larger the frictional force is the larger the minimal sliding amplitude is, and they also obtain that the amplitudes are larger in sinusoidal input than in rectangular one and are larger in rectangular input than in impulsive one. 
(英) Authors have studied degradation phenomenon on contact resistance under the influences of an external micro-oscillation. They have developed a hammering oscillating mechanism (HOM) or a micro-sliding mechanism 1 (MSM1) which provides micro-oscillations for electrical contacts. It is shown that each mechanism is able to simulate an actual degradation phenomenon on electrical contacts. And they have also developed another mechanism, namely a micro-sliding mechanism 2 (MSM2) which provides micro-sliding driven by a piezo-electric actuator and elastic hinges, which has more precise sliding performance, less thermal drift on sliding amplitude, and smaller sized system constituted of commercial parts.
In this paper, they obtain the experimental results of minimal sliding amplitudes to make resistances fluctuate on electrical contacts under some conditions which are three types of input waveforms which are sinusoidal, rectangular, and impulsive, three levels of frictional force which are usual (1.6N/pin), middle (1.0N/pin), and smaller (0.3N/pin) between a male-pin and a female-part using the MSM2.
In addition, they compare the differences on the minimal sliding amplitudes among the above conditions by means of dispersion analysis on statistical test on the degradation phenomenon of electrical contacts. Consequently they obtain that the larger the frictional force is the larger the minimal sliding amplitude is, and they also obtain that the amplitudes are larger in sinusoidal input than in rectangular one and are larger in rectangular input than in impulsive one.
キーワード (和) 電気接点 / 微摺動機構 / ピエゾアクチュエータ / 弾性ヒンジ / 摩擦力 / 最小摺動振幅 / 統計解析 /  
(英) electrical contact / micro-sliding mechanism / piezo-actuator / elastic hinge / frictional force / minimal sliding amplitude / statistical analysis /  
文献情報 信学技報, vol. 114, no. 342, EMD2014-92, pp. 155-160, 2014年11月.
資料番号 EMD2014-92 
発行日 2014-11-22 (EMD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード EMD2014-92 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2014-92

研究会情報
研究会 EMD  
開催期間 2014-11-29 - 2014-11-30 
開催地(和) 千歳市民文化センター 
開催地(英) Chitose Cultural Center 
テーマ(和) 国際セッションIS-EMD2014 
テーマ(英) International Session IS-EMD2014 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMD 
会議コード 2014-11-EMD 
本文の言語 英語 
タイトル(和)  
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Degradation phenomenon of electrical contacts by using a micro-sliding mechanism 
サブタイトル(英) The comparison with input waveforms concerning of minimal sliding amplitudes under some conditions (3) 
キーワード(1)(和/英) 電気接点 / electrical contact  
キーワード(2)(和/英) 微摺動機構 / micro-sliding mechanism  
キーワード(3)(和/英) ピエゾアクチュエータ / piezo-actuator  
キーワード(4)(和/英) 弾性ヒンジ / elastic hinge  
キーワード(5)(和/英) 摩擦力 / frictional force  
キーワード(6)(和/英) 最小摺動振幅 / minimal sliding amplitude  
キーワード(7)(和/英) 統計解析 / statistical analysis  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 和田 真一 / Shin-ichi Wada / ワダ シンイチ
第1著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC System)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 越田 圭治 / Keiji Koshida / コシダ ケイジ
第2著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC System)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 久保田 洋彰 / Hiroaki Kubota / クボタ ヒロアキ
第3著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC System)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 澤 孝一郎 / Koichiro Sawa / サワ コウイチロウ
第4著者 所属(和/英) 日本工業大学 (略称: 日本工大)
Nippon Institute of Technology (略称: Nippon Inst. of Tech.)
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講演者
発表日時 2014-11-30 15:15:00 
発表時間 20 
申込先研究会 EMD 
資料番号 IEICE-EMD2014-92 
巻番号(vol) IEICE-114 
号番号(no) no.342 
ページ範囲 pp.155-160 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-EMD-2014-11-22 


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