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講演抄録/キーワード
講演名 2014-11-28 09:15
不揮発メモリを対象とした最大ハミング距離と最小ハミング距離を制約した符号による書き込み手法のエネルギー評価
古城辰朗多和田雅師柳澤政生戸川 望早大VLD2014-105 DC2014-59
抄録 (和) デバイスの微細化によってメモリに保存されている値が破壊されるリスクが増大する.メモリの値を破壊から守る手法として誤り訂正符号を利用することが挙げられる.誤り訂正符号はメモリに書き込むビット数が多いため,書き込みエネルギーが大きくなるという欠点があり,書き込みビット数削減と誤り訂正を同時に実現する符号が必要とされる.我々は書き込みビット数削減と誤り訂正を同時に実現する符号としてドーナツ符号を提案した.また,符号拡張手法を提案し,ドーナツ符号に符号拡張手法を適用した拡張ドーナツ符号を提案した.拡張ドーナツ符号は,書き込みビット数を削減し,同時に誤り訂正を実現した符号である.本稿では,我々が提案した拡張ドーナツ符号について,エンコーダ・デコーダならびに不揮発メモリのエネルギーを評価する.評価実験の結果,拡張ドーナツ符号を用いたメモリはハミング符号を用いたメモリに比べて最大32%のエネルギーが削減された. 
(英) Data stored in non-volatile memories may be destructed due to crosstalk and radiation but we can restore their data by using error-correcting codes. However, non-volatile memories consume a large amount of energy in writing. How to reduce writing bits even when using error-correcting codes is one of the challenges in non-volatile memory design. We have proposed a Doughnut code, which is a new bit-write-reducing and error-correcting code. In addition, we have proposed a it code expansion method. When we apply our code expansion method to Doughnut code, we can obtain expanded Doughnut codes. Expanded Doughnut codes are error-correcting codes which can reduce the number of writing bits. In this paper, we demonstrate experimental evaluations from the viewpoint of energy reduction of our proposed expanded Doughnut codes. Experimental results show that the write-reducing code reduces energy consumption by up to 32% compared to Hamming code.
キーワード (和) 不揮発メモリ / 書き込みビット数削減 / 誤り訂正符号 / / / / /  
(英) non-volatile memory / reduction the number of writing bits / error-correcting codes / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 114, no. 328, VLD2014-105, pp. 221-226, 2014年11月.
資料番号 VLD2014-105 
発行日 2014-11-19 (VLD, DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード VLD2014-105 DC2014-59

研究会情報
研究会 VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM  
開催期間 2014-11-26 - 2014-11-28 
開催地(和) ビーコンプラザ(別府国際コンベンションセンター) 
開催地(英) B-ConPlaza 
テーマ(和) デザインガイア2014 -VLSI設計の新しい大地- 
テーマ(英) Design Gaia 2014 -New Field of VLSI Design- 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 VLD 
会議コード 2014-11-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 不揮発メモリを対象とした最大ハミング距離と最小ハミング距離を制約した符号による書き込み手法のエネルギー評価 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Energy evaluation of bit-write reduction method based on state encoding limiting maximum and minimum Hamming distances for non-volatile memories 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 不揮発メモリ / non-volatile memory  
キーワード(2)(和/英) 書き込みビット数削減 / reduction the number of writing bits  
キーワード(3)(和/英) 誤り訂正符号 / error-correcting codes  
キーワード(4)(和/英) /  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 古城 辰朗 / Tatsuro Kojo / コジョウ タツロウ
第1著者 所属(和/英) 早稲田大学 (略称: 早大)
Waseda University (略称: Waseda Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 多和田 雅師 / Masashi Tawada / タワダ マサシ
第2著者 所属(和/英) 早稲田大学 (略称: 早大)
Waseda University (略称: Waseda Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 柳澤 政生 / Masao Yanagisawa / ヤナギサワ マサオ
第3著者 所属(和/英) 早稲田大学 (略称: 早大)
Waseda University (略称: Waseda Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 戸川 望 / Nozomu Togawa / トガワ ノゾム
第4著者 所属(和/英) 早稲田大学 (略称: 早大)
Waseda University (略称: Waseda Univ.)
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講演者
発表日時 2014-11-28 09:15:00 
発表時間 25 
申込先研究会 VLD 
資料番号 IEICE-VLD2014-105,IEICE-DC2014-59 
巻番号(vol) IEICE-114 
号番号(no) no.328(VLD), no.329(DC) 
ページ範囲 pp.221-226 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-VLD-2014-11-19,IEICE-DC-2014-11-19 


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