電子情報通信学会 研究会発表申込システム
講演論文 詳細
技報閲覧サービス
技報オンライン
‥‥ (ESS/通ソ/エレソ/ISS)
技報アーカイブ
‥‥ (エレソ/通ソ)
 トップに戻る 前のページに戻る   [Japanese] / [English] 

講演抄録/キーワード
講演名 2014-11-28 10:05
キャプチャ消費電力削減のためのテストポイント挿入法
高橋慶安山崎紘史細川利典日大)・吉村正義京都産大VLD2014-99 DC2014-53
抄録 (和) ディープサブミクロン時代の実速度スキャンテストにおいて,キャプチャ時の消費電力の増加が問題となっている.キャプチャ時の高い消費電力は過度のIRドロップを引き起こす可能性があり,歩留まり損失の原因のひとつに挙げられる.ドントケア判定とドントケア割当てを用いたテストパターン変更法がキャプチャ時の消費電力を削減するうえで効果的であることが知られている.本論文では,制御ポイント挿入によりテストパターン中のドントケア数を増加させ,ドントケア判定とドントケア割当ての効果を高める手法を提案する.実験結果は提案手法がISCAS’89ベンチマーク回路に対して効果的であることを示す. 
(英) In at-speed scan testing of deep sub-micron era, high power dissipation can occur by high launch-induced switching activity when the response to a test pattern is captured by flip-flops, resulting in excessive IR drop, which may cause significant capture-induced yield loss. It is known that test pattern manipulations methods using don’t care identification and don’t care filling are effective to reduce capture power dissipation. In this paper, we propose a novel control point insertion method to reduce capture power dissipation. Control points can increase the number of don’t cares in high power test patterns. Experimental results show that the proposed method was effective for ISCAS’89 benchmark circuits.
キーワード (和) 遷移故障 / キャプチャ消費電力 / 制御ポイント挿入 / ドントケア判定 / ドントケア割当て / / /  
(英) transition faults / capture power dissipation / control point insertion / don't care identification / don't care filling / / /  
文献情報 信学技報, vol. 114, no. 329, DC2014-53, pp. 185-190, 2014年11月.
資料番号 DC2014-53 
発行日 2014-11-19 (VLD, DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード VLD2014-99 DC2014-53

研究会情報
研究会 VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM  
開催期間 2014-11-26 - 2014-11-28 
開催地(和) ビーコンプラザ(別府国際コンベンションセンター) 
開催地(英) B-ConPlaza 
テーマ(和) デザインガイア2014 -VLSI設計の新しい大地- 
テーマ(英) Design Gaia 2014 -New Field of VLSI Design- 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2014-11-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) キャプチャ消費電力削減のためのテストポイント挿入法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A Test Point Insertion Method to Reduce Capture Power Dissipation 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 遷移故障 / transition faults  
キーワード(2)(和/英) キャプチャ消費電力 / capture power dissipation  
キーワード(3)(和/英) 制御ポイント挿入 / control point insertion  
キーワード(4)(和/英) ドントケア判定 / don't care identification  
キーワード(5)(和/英) ドントケア割当て / don't care filling  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 高橋 慶安 / Yoshiyasu Takahashi / タカハシ ヨシヤス
第1著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 山崎 紘史 / Hiroshi Yamazaki / ヤマザキ ヒロシ
第2著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 細川 利典 / Toshinori Hosokawa / ホソカワ トシノリ
第3著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 吉村 正義 / Masayoshi Yoshimura / ヨシムラ マサヨシ
第4著者 所属(和/英) 京都産業大学 (略称: 京都産大)
Kyoto Sangyo University (略称: Kyoto Sangyo Univ.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第5著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第6著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第7著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第8著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第9著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第10著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第11著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第12著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第13著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第14著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第15著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第16著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第17著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第18著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第19著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第20著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
講演者
発表日時 2014-11-28 10:05:00 
発表時間 25 
申込先研究会 DC 
資料番号 IEICE-VLD2014-99,IEICE-DC2014-53 
巻番号(vol) IEICE-114 
号番号(no) no.328(VLD), no.329(DC) 
ページ範囲 pp.185-190 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-VLD-2014-11-19,IEICE-DC-2014-11-19 


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会