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講演抄録/キーワード
講演名 2014-11-28 09:40
キャプチャセーフテストベクトルを利用した低消費電力テスト生成法
平井淳士細川利典山内ゆかり新井雅之日大VLD2014-98 DC2014-52
抄録 (和) 実速度スキャンテストにおいて,キャプチャ動作時の過度な電力消費は回路の熱破壊や誤テストといった深刻な問題を引き起こし,歩留り損失の原因のひとつにあげられる.したがって,キャプチャ消費電力が閾値を超えるようなテストベクトルは,不必要な歩留り損失につながるためテストに使用できない.そのため,テスト生成時にキャプチャ消費電力を考慮する必要がある.本論文では初期テスト集合中の低キャプチャ電力テストベクトルを利用した故障シミュレーションベースの低キャプチャ電力テスト生成手法を提案する.提案手法では,シンプルなアルゴリズムで高速に低キャプチャ電力テスト集合を生成する.ISCAS’89,ITC’99ベンチマーク回路を用いた実験では,従来の低キャプチャ電力テスト生成手法と比較して最大で301倍高速に低キャプチャ電力テスト集合を生成し,アンセーフ故障数を平均97%削減したことを示す. 
(英) In at-speed scan testing, capture power is a serious problem because the high power dissipation that can occur when the response for a test vector is captured by flip-flops results in circuit-damaging high temperature and timing errors, which may cause significant capture-induced yield loss. Thus, the test vectors that violate capture power constraints are not able to be used for at-speed scan testing in order to prevent unnecessary yield loss. Therefore, in test generation, it is necessary to consider capture power. In this paper, we propose a new low capture power test generation method based on fault simulation using low capture power test vectors in an initial test set. The simple simulation-based method can generate a low capture power test set in a short time. Experimental results show that the use of this method reduces the number of unsafe-faults by 97% on average and shorten test generation time by 301 times on maximum compared with the conventional low capture power test generation method.
キーワード (和) 低消費電力 / テスト生成 / キャプチャセーフテストベクトル / テストベクトル合成 / アンセーフ故障 / / /  
(英) low power / test generation / capture safe test vectors / test vector synthesis / unsafe faults / / /  
文献情報 信学技報, vol. 114, no. 329, DC2014-52, pp. 179-184, 2014年11月.
資料番号 DC2014-52 
発行日 2014-11-19 (VLD, DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
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PDFダウンロード VLD2014-98 DC2014-52

研究会情報
研究会 VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM  
開催期間 2014-11-26 - 2014-11-28 
開催地(和) ビーコンプラザ(別府国際コンベンションセンター) 
開催地(英) B-ConPlaza 
テーマ(和) デザインガイア2014 -VLSI設計の新しい大地- 
テーマ(英) Design Gaia 2014 -New Field of VLSI Design- 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2014-11-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) キャプチャセーフテストベクトルを利用した低消費電力テスト生成法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A Test Generation Method for Low Capture Power Using Capture Safe Test Vectors 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 低消費電力 / low power  
キーワード(2)(和/英) テスト生成 / test generation  
キーワード(3)(和/英) キャプチャセーフテストベクトル / capture safe test vectors  
キーワード(4)(和/英) テストベクトル合成 / test vector synthesis  
キーワード(5)(和/英) アンセーフ故障 / unsafe faults  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 平井 淳士 / Atsushi Hirai / ヒライ アツシ
第1著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 細川 利典 / Toshinori Hosokawa / ホソカワ トシノリ
第2著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 山内 ゆかり / Yukari Yamauchi / ヤマウチ ユカリ
第3著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 新井 雅之 / Masayuki Arai / アライ マサユキ
第4著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ.)
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講演者
発表日時 2014-11-28 09:40:00 
発表時間 25 
申込先研究会 DC 
資料番号 IEICE-VLD2014-98,IEICE-DC2014-52 
巻番号(vol) IEICE-114 
号番号(no) no.328(VLD), no.329(DC) 
ページ範囲 pp.179-184 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-VLD-2014-11-19,IEICE-DC-2014-11-19 


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