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講演抄録/キーワード
講演名 2014-11-28 15:10
クラスタ分析を用いた教師あり学習によるLSIのバーイン不良予測の一手法
鉄川彰吾宮本誠也大竹哲史大分大)・中村芳行ルネサス セミコンダクタ パッケージ&テスト ソリューションズVLD2014-110 DC2014-64
抄録 (和) LSIの製造テスト工程には,ウェハテスト,パッケージテスト,バーインテストなどがある.バーインテストには特に費用がかかるため,これとは別の方法で劣化テストを代替できればテストコストを大幅に削減できる.本研究では,過去のLSIのバーインテスト結果を含む製造テストデータを用いてバーイン不良を学習し,新たに製造テストを行うLSIのバーイン直前までのテストデータからバーイン不良を予測する.製造テストデータには,ロット間,ウェハ間,ウェハ座標,テスト装置等による製造ばらつきや測定ばらつきがある.本稿では,クラスタ分析を用いてクラスタ内でのばらつきを緩和し,クラスタ毎に学習することにより予測精度の向上ができることを示す. 
(英) Production test of LSIs consists of several test phases such as wafer test phase, package test phase, burn-in test phase, and so on. Since the burn-in test phase spends a lot of time, shortening of or finding replacement for this phase makes the test cost reduced. In this work, a method to learn burn-in fails using production test results of LSIs produced in the past including burn-in test results and to predict burn-in fails of newly produced LSIs using their test results before burn-in test phase is used. The test results of LSIs includes various variabilities such as production induced and measurement induced variabilities. In this paper, we try not to remove the variabilities from the test results but introduce cluster analysis, which is expected to classify dies with similar characteristic including variabilities into the same cluster and to alleviate variabilities in each cluster, into supervised learning
for improved prediction accuracy.
キーワード (和) テストコスト削減 / 不良ダイ予測 / 教師あり学習 / クラスタ分析 / / / /  
(英) test cost reduction / fail die prediction / supervised learning / cluster analysis / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 114, no. 329, DC2014-64, pp. 251-256, 2014年11月.
資料番号 DC2014-64 
発行日 2014-11-19 (VLD, DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
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技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード VLD2014-110 DC2014-64

研究会情報
研究会 VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM  
開催期間 2014-11-26 - 2014-11-28 
開催地(和) ビーコンプラザ(別府国際コンベンションセンター) 
開催地(英) B-ConPlaza 
テーマ(和) デザインガイア2014 -VLSI設計の新しい大地- 
テーマ(英) Design Gaia 2014 -New Field of VLSI Design- 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2014-11-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) クラスタ分析を用いた教師あり学習によるLSIのバーイン不良予測の一手法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A Method of Burn-in Fail Prediction of LSIs Based on Supervised Learning Using Cluster Analysis 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) テストコスト削減 / test cost reduction  
キーワード(2)(和/英) 不良ダイ予測 / fail die prediction  
キーワード(3)(和/英) 教師あり学習 / supervised learning  
キーワード(4)(和/英) クラスタ分析 / cluster analysis  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 鉄川 彰吾 / Shogo Tetsukawa / テツカワ ショウゴ
第1著者 所属(和/英) 大分大学 (略称: 大分大)
Oita University (略称: Oita Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 宮本 誠也 / Seiya Miyamoto / ミヤモト セイヤ
第2著者 所属(和/英) 大分大学 (略称: 大分大)
Oita University (略称: Oita Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 大竹 哲史 / Satoshi Ohtake / オオタケ サトシ
第3著者 所属(和/英) 大分大学 (略称: 大分大)
Oita University (略称: Oita Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 中村 芳行 / Yoshiyuki Nakamura / ナカムラ ヨシユキ
第4著者 所属(和/英) ルネサス セミコンダクタ パッケージ&テスト ソリューションズ株式会社 (略称: ルネサス セミコンダクタ パッケージ&テスト ソリューションズ)
Renesas Semiconductor Package & Test Solutions Co.,Ltd. (略称: Renesas)
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講演者
発表日時 2014-11-28 15:10:00 
発表時間 25 
申込先研究会 DC 
資料番号 IEICE-VLD2014-110,IEICE-DC2014-64 
巻番号(vol) IEICE-114 
号番号(no) no.328(VLD), no.329(DC) 
ページ範囲 pp.251-256 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-VLD-2014-11-19,IEICE-DC-2014-11-19 


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