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講演抄録/キーワード
講演名 2014-11-28 15:35
[招待講演]30Gb/s光LSIの量産試験向けテスト手法の提案
渡邊大輔アドバンテスト)・増田 伸アドバンテスト研CPM2014-129 ICD2014-72 エレソ技報アーカイブへのリンク:CPM2014-129 ICD2014-72
抄録 (和) クラウドコンピューティングの急成長により、データセンタ内部のトラフィックが指数的に増大しており、シリコンフォトニクス技術を用いた低電力かつ低価格な光インタコネクションデバイスの実用化に期待が寄せられている。そのような高速光通信ポートを備えたデバイスの量産試験環境を低コストで提供できるテストシステムのコンセプトモデルを提案する。キーパーツである高性能な光変調器を自社開発し、30Gb/sでのBit Error Rate (BER)テストを多数個同時に低コストで実現できる。また、電気と光の高速通信ポートを同時一括接続できる量産向けのデバイスインタフェースも開発し、耐久性や接続信頼性を評価した。 
(英) With increasing data transmission capacity due to cloud computing, datacenters have an increased need for lower power and high-density optical communication devices for power and cost saving. Recently, many researchers have strived to realize silicon-based low-cost optical transceivers using silicon photonics technology for interconnection in datacenters. To enable high-volume testing of these low-cost optical devices, we developed an optical LSI test system as a proof-of-concept. Key technologies include high-density and high-performance optical functional devices and a device interface enabling simultaneous connection of optical and electrical interfaces. Our proposed system supports multi-channel optical bit-error-rate (BER) testing of devices with signal rates up to 30 Gb/s.
キーワード (和) 半導体自動試験装置 / 光インタフェース / BER試験 / 光変調器 / デバイスインタフェース / / /  
(英) automated test equipment / optical interface / optical interface / optical modulator / device interface / / /  
文献情報 信学技報, vol. 114, no. 333, ICD2014-72, pp. 39-42, 2014年11月.
資料番号 ICD2014-72 
発行日 2014-11-20 (CPM, ICD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード CPM2014-129 ICD2014-72 エレソ技報アーカイブへのリンク:CPM2014-129 ICD2014-72

研究会情報
研究会 VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM  
開催期間 2014-11-26 - 2014-11-28 
開催地(和) ビーコンプラザ(別府国際コンベンションセンター) 
開催地(英) B-ConPlaza 
テーマ(和) デザインガイア2014 -VLSI設計の新しい大地- 
テーマ(英) Design Gaia 2014 -New Field of VLSI Design- 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ICD 
会議コード 2014-11-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 30Gb/s光LSIの量産試験向けテスト手法の提案 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) An approach for 30Gb/s optical LSI volume testing 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 半導体自動試験装置 / automated test equipment  
キーワード(2)(和/英) 光インタフェース / optical interface  
キーワード(3)(和/英) BER試験 / optical interface  
キーワード(4)(和/英) 光変調器 / optical modulator  
キーワード(5)(和/英) デバイスインタフェース / device interface  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 渡邊 大輔 / Daisuke Watanabe / ワタナベ ダイスケ
第1著者 所属(和/英) 株式会社アドバンテスト (略称: アドバンテスト)
Advantest Corporation (略称: Advantest)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 増田 伸 / Shin Masuda / マスダ シン
第2著者 所属(和/英) 株式会社アドバンテスト研究所 (略称: アドバンテスト研)
ADVANTEST Laboratories Ltd. (略称: ADVANTEST Lab)
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講演者
発表日時 2014-11-28 15:35:00 
発表時間 50 
申込先研究会 ICD 
資料番号 IEICE-CPM2014-129,IEICE-ICD2014-72 
巻番号(vol) IEICE-114 
号番号(no) no.332(CPM), no.333(ICD) 
ページ範囲 pp.39-42 
ページ数 IEICE-4 
発行日 IEICE-CPM-2014-11-20,IEICE-ICD-2014-11-20 


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