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講演抄録/キーワード
講演名 2014-11-14 15:45
[特別講演]光応用電磁界計測の研究動向とEMC計測への応用
黒川 悟産総研EMCJ2014-73
抄録 (和) 電磁界計測に光応用技術を用いた研究開発が近年盛んに実施されており、電子情報通信学会では、2012年4月に光応用電磁界計測時限研究専門委員会を設置して活動を実施している。光応用電磁界計測は、アンテナ計測、EMC計測、マイクロ波フォトニクス等多くに分野の融合した研究領域を含んでいる。本報告では、光応用電磁界計測時限研究委員会の概要を述べ、最新の研究動向として特にEMC計測への応用の最新報告を概説する. 
(英) Recent progresses in photonic electromagnetic measurement (PEM) research and development are remarkable for electromagnetic interference (EMI) measurements, antenna measurement and microwave and millimeter wave photonics. PEM technical committee was established in April 2004 within IEICE. In this paper, we present some recent PEM research topics for the field of antenna measurement and electromagnetic field measurement.
キーワード (和) 光応用電磁界計測 / EMC計測 / 光電界センサ / マイクロ波フォトニクス / RoF技術 / / /  
(英) Photonic applied electromagnetic measurement / EMC measurement / optical electric field sensor / microwave and millimeter wave photonics / Radio over fiber technology / / /  
文献情報 信学技報, vol. 114, no. 304, EMCJ2014-73, pp. 37-39, 2014年11月.
資料番号 EMCJ2014-73 
発行日 2014-11-07 (EMCJ) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード EMCJ2014-73

研究会情報
研究会 EMCJ PEM  
開催期間 2014-11-14 - 2014-11-14 
開催地(和) 産総研 臨海副都心センター 
開催地(英) AIST Tokyo Waterfront 
テーマ(和) 光応用電磁界計測,EMC一般 
テーマ(英) Photonics-applied Electromagnetic Measurement, EMC, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMCJ 
会議コード 2014-11-EMCJ-PEM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 光応用電磁界計測の研究動向とEMC計測への応用 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Recent research topics and EMI measurement applications of Photonic Applied Electromagnetic measurement 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 光応用電磁界計測 / Photonic applied electromagnetic measurement  
キーワード(2)(和/英) EMC計測 / EMC measurement  
キーワード(3)(和/英) 光電界センサ / optical electric field sensor  
キーワード(4)(和/英) マイクロ波フォトニクス / microwave and millimeter wave photonics  
キーワード(5)(和/英) RoF技術 / Radio over fiber technology  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 黒川 悟 / Satoru Kurokawa / クロカワ サトル
第1著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
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講演者 第1著者 
発表日時 2014-11-14 15:45:00 
発表時間 50分 
申込先研究会 EMCJ 
資料番号 EMCJ2014-73 
巻番号(vol) vol.114 
号番号(no) no.304 
ページ範囲 pp.37-39 
ページ数
発行日 2014-11-07 (EMCJ) 


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