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講演抄録/キーワード
講演名 2014-11-14 14:50
グランドプレーン上任意高におけるダイポールアンテナ係数測定の不確かさ
森岡健浩産総研)・平沢一紘筑波大
抄録 (和) アンテナ係数(AF)は測定器指示電圧とアンテナ位置における電界強度の間の変換係数であり,EMC計測では広く用いられる.アンテナ特性は周囲環境の影響を受けるため,アンテナを実際に使用する条件に合った校正が必要である.特にグランドプレーン上の水平偏波を用いた測定では,アンテナエレメントとグランドプレーン間の結合によって自由空間AFから数dBの偏差を生じることがある.本稿ではグランドプレーン上任意高におけるAFを簡便な測定によって求める手法を提案し,それによって求まるAFの不確かさを従来手法とモンテカルロ法によって求める. 
(英) The antenna factor (AF) is a coefficient transducing the E-field strength at the antenna location to the terminal voltage across a load. Since the antenna characteristics are affected by the measurement environment, the AF should be calibrated with the specific condition. When the measurement is carried out above the ground plane, the AF may deviate from the free space AF by a few dB due to the ground coupling especially for the horizontal polarization. In the present paper a simple method is proposed to obtain the AF at an arbitral height above the ground plane. The associated uncertainty with this method is evaluated by the conventional method and the Monte Carlo method (MCM).
キーワード (和) アンテナ係数 / ダイポールアンテナ / オープンサイト / 不確かさ / モンテカルロ法 / / /  
(英) Antenna Factor / Dipole Antenna / Open Area Test Site / Uncertainty / Monte Carlo Method / / /  
文献情報 信学技報, vol. 114, no. 304, EMCJ2014-71, pp. 25-30, 2014年11月.
資料番号 EMCJ2014-71 
発行日 2014-11-07 (EMCJ) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 EMCJ PEM  
開催期間 2014-11-14 - 2014-11-14 
開催地(和) 産総研 臨海副都心センター 
開催地(英) AIST Tokyo Waterfront 
テーマ(和) 光応用電磁界計測,EMC一般 
テーマ(英) Photonics-applied Electromagnetic Measurement, EMC, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMCJ 
会議コード 2014-11-EMCJ-PEM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) グランドプレーン上任意高におけるダイポールアンテナ係数測定の不確かさ 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Uncertainty of the dipole antenna factor at an arbitrary height above a ground plane 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) アンテナ係数 / Antenna Factor  
キーワード(2)(和/英) ダイポールアンテナ / Dipole Antenna  
キーワード(3)(和/英) オープンサイト / Open Area Test Site  
キーワード(4)(和/英) 不確かさ / Uncertainty  
キーワード(5)(和/英) モンテカルロ法 / Monte Carlo Method  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 森岡 健浩 / Takehiro Morioka / モリオカ タケヒロ
第1著者 所属(和/英) 独立行政法人産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 平沢 一紘 / Kazuhiro Hirasawa / ヒラサワ カズヒロ
第2著者 所属(和/英) 筑波大学 (略称: 筑波大)
University of Tsukuba (略称: Univ. of Tsukuba)
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講演者
発表日時 2014-11-14 14:50:00 
発表時間 25 
申込先研究会 EMCJ 
資料番号 IEICE-EMCJ2014-71 
巻番号(vol) IEICE-114 
号番号(no) no.304 
ページ範囲 pp.25-30 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-EMCJ-2014-11-07 


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