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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2014-11-06 14:40 ［招待講演］電荷蓄積型メモリーのモデリング・シミュレーションと信頼性課題 ○石原貴光・安田直樹・藤井章輔（東芝）  SDM2014-102 エレソ技報アーカイブへのリンク：SDM2014-102 |
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| 抄録 | （和） | 電荷蓄積層の欠陥準位への電子捕獲を利用した電荷蓄積型メモリーは、有力な次世代メモリー候補である．その動作機構は複雑であり、系統的な理解のためには実験事実を踏まえたモデリング・シミュレーションが不可欠である．書きこみ消去特性や電荷保持特性については実験事実を踏まえたモデル化とTCADによるメカニズム理解が進展している．一方、信頼性に関わる諸課題は、モデリング・シミュレーションが今後注力すべきであり、その展望として信頼性に関して得られている実験的知見を紹介する． |
| （英） | Charge-trapping memory is one of the most promising candidates as the next generation memory. The complicated operation mechanism requires modeling and simulation on the basis of the experiment for the systematic understanding of the operation. Write/erase and data retention characteristics are well understood by the modeling and TCAD simulation. Reliability issues are left to be focused on by modeling and simulation. As perspective, experimental results related with the reliability are presented. | |
| キーワード | （和） | 電荷蓄積型メモリー / 書きこみ消去 / モデリング / 評価・測定 / 信頼性 / / / |
| （英） | Charge-Trapping Memory / Write/Erase characteristics / Modeling / Measurement / Reliability / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 114, no. 291, SDM2014-102, pp. 37-42, 2014年11月. | |
| 資料番号 | SDM2014-102 | |
| 発行日 | 2014-10-30 (SDM) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | SDM2014-102 エレソ技報アーカイブへのリンク：SDM2014-102 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | SDM |
| 開催期間 | 2014-11-06 - 2014-11-07 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | プロセス・デバイス・回路シミュレーションおよび一般 |
| テーマ（英） | Process, Device, Circuit Simulation, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | SDM |
| 会議コード | 2014-11-SDM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 電荷蓄積型メモリーのモデリング・シミュレーションと信頼性課題 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Modeling and Simulation of Charge-Trapping Memory and Reliability Issues |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 電荷蓄積型メモリー / Charge-Trapping Memory |
| キーワード(2)（和/英） | 書きこみ消去 / Write/Erase characteristics |
| キーワード(3)（和/英） | モデリング / Modeling |
| キーワード(4)（和/英） | 評価・測定 / Measurement |
| キーワード(5)（和/英） | 信頼性 / Reliability |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 石原 貴光 / Takamitsu Ishihara / イシハラ タカミツ |
| 第1著者 所属（和/英） | 株式会社東芝 (略称： 東芝) Toshiba Corporation (略称： Toshiba) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 安田 直樹 / Naoki Yasuda / ヤスダ ナオキ |
| 第2著者 所属（和/英） | 株式会社東芝 (略称： 東芝) Toshiba Corporation (略称： Toshiba) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 藤井 章輔 / Shosuke Fujii / フジイ ショウスケ |
| 第3著者 所属（和/英） | 株式会社東芝 (略称： 東芝) Toshiba Corporation (略称： Toshiba) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2014-11-06 14:40:00 |
| 発表時間 | 50分 |
| 申込先研究会 | SDM |
| 資料番号 | SDM2014-102 |
| 巻番号（vol） | vol.114 |
| 号番号（no） | no.291 |
| ページ範囲 | pp.37-42 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2014-10-30 (SDM) |
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