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講演抄録/キーワード
講演名 2014-08-22 16:35
微摺動機構を用いた電気接点劣化現象 ~ いくつかの条件下における最小摺動振幅に対する比較評価(2) ~
越田圭治・○和田真一久保田洋彰TMCシステム)・澤 孝一郎日本工大エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2014-56 CPM2014-71 OPE2014-81 LQE2014-55
抄録 (和) 著者らは,電気接点等に微小な振動を与えるハンマリング加振機構を開発し,実験してきた.また,加振
実験との比較を行うため,微摺動機構を開発し実験してきた.そして,微小な振動や摺動が,コネクタピンの接触抵
抗に与える影響を考察してきた.摺動実験により,21.5 時間以内にコネクタピンが劣化するための,最小の摺動振幅
(駆動振幅,限界振幅)の存在が示唆された.本論文では,この限界振幅についての統計解析について報告する.行っ
た統計解析は分散分析と母平均の推定である. 
(英) Authors have developed a hammering oscillating mechanism which gives micro-oscillation to electrical
contacts, and have experimented. In addition, we have developed micro-sliding mechanisms for comparisons with
oscillation experiments. And we have discussed the in
uence of the micro-sliding or micro-oscillation on the resis-
tance of the connector pins. It is indicated that there are minimal sliding amplitudes or driving amplitudes within
21.5 hours by the sliding experiments. In this paper, we report statistical analyses for its minimal amplitudes.
Statistical analyses are carried out for the estimation of population mean values and analysis of variance.
キーワード (和) 電気接点 / 接触抵抗 / 微摺動機構 / 統計解析 / 分散分析 / 点推定 / 区間推定 /  
(英) electrical contact / contact resistance / micro-sliding mechanism / statistics analysis / analysis of variance / point estimation / interval estimation /  
文献情報 信学技報, vol. 114, no. 184, EMD2014-56, pp. 145-150, 2014年8月.
資料番号 EMD2014-56 
発行日 2014-08-14 (R, EMD, CPM, OPE, LQE) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)

研究会情報
研究会 EMD LQE OPE CPM R  
開催期間 2014-08-21 - 2014-08-22 
開催地(和) 小樽経済センター 
開催地(英) Otaru Economy Center 
テーマ(和) 光部品・電子デバイス実装技術・信頼性、及び一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMD 
会議コード 2014-08-EMD-LQE-OPE-CPM-R 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 微摺動機構を用いた電気接点劣化現象 
サブタイトル(和) いくつかの条件下における最小摺動振幅に対する比較評価(2) 
タイトル(英) Degradation phenomenon of electrical contacts by a micro-sliding mechanism 
サブタイトル(英) The comparison of the evaluated minimal sliding amplitudes under some conditions (2) 
キーワード(1)(和/英) 電気接点 / electrical contact  
キーワード(2)(和/英) 接触抵抗 / contact resistance  
キーワード(3)(和/英) 微摺動機構 / micro-sliding mechanism  
キーワード(4)(和/英) 統計解析 / statistics analysis  
キーワード(5)(和/英) 分散分析 / analysis of variance  
キーワード(6)(和/英) 点推定 / point estimation  
キーワード(7)(和/英) 区間推定 / interval estimation  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 越田 圭治 / Keiji Koshida / コシダ ケイジ
第1著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC System)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 和田 真一 / Shin-ichi Wada / ワダ シンイチ
第2著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC System)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 久保田 洋彰 / Hiroaki Kubota / クボタ ヒロアキ
第3著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC System)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 澤 孝一郎 / Koichiro Sawa / サワ コウイチロウ
第4著者 所属(和/英) 日本工業大学 (略称: 日本工大)
Nippon Institute of Technology (略称: Nippon Inst. of Tech.)
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講演者
発表日時 2014-08-22 16:35:00 
発表時間 20 
申込先研究会 EMD 
資料番号 IEICE-R2014-51,IEICE-EMD2014-56,IEICE-CPM2014-71,IEICE-OPE2014-81,IEICE-LQE2014-55 
巻番号(vol) IEICE-114 
号番号(no) no.183(R), no.184(EMD), no.185(CPM), no.186(OPE), no.187(LQE) 
ページ範囲 pp.145-150 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-R-2014-08-14,IEICE-EMD-2014-08-14,IEICE-CPM-2014-08-14,IEICE-OPE-2014-08-14,IEICE-LQE-2014-08-14 


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