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講演抄録/キーワード
講演名 2014-07-23 10:45
単一磁束量子時間測定回路と超伝導ストリップイオン検出器を用いた高分子の飛行時間型質量分析
佐野京佑村松祐希下田知毅山梨裕希吉川信行横浜国大)・全 伸幸大久保雅隆産総研SCE2014-26 エレソ技報アーカイブへのリンク:SCE2014-26
抄録 (和) 我々は高感度検出の可能な超伝導検出器(SSID,Superconducting strip ion detector)と高時間分解能を実現可能な単一磁束量子(SFQ,Single-flux-quantum)回路を組合せた飛行時間型質量分析(TOF-MS,Time-of-flight mass spectrometry)システムを開発している.これまでの研究において,SFQ回路を用いた時間測定回路単体での動作実証に成功している.今回,動作実証済みのSFQ時間測定回路を冷凍機に実装し冷凍機内の動作を確認した.更に実際にSFQ回路を用いた時間測定回路をSSIDと組み合わせた超伝導質量分析システムを構築した.本システムを用いて生体高分子(リゾチーム)の質量分析実験を行った結果,対象の試料の飛行時間に対応したマススペクトルの取得に成功した. 
(英) We have been developing a high-resolution superconducting time-of-flight mass spectrometry (TOF-MS) system, which is composed of a superconducting strip ion detector (SSID) and a single-flux-quantum (SFQ) multi-stop time-to-digital converter (TDC). In our previous study, we demonstrated our SFQ TDC using the AIST Nb standard process 2 (STP2). In this study, we installed the SFQ TDC into a cryo-cooler and implemented a superconducting TOF-MS system by using the SFQ TDC and an SSID. We analyzed the TOF of biomolecules, Lysozyme, where the molecular weight is 14,000 Da, and obtained the mass spectrum.
キーワード (和) SFQ回路 / TOF-MS / TDC / FIFO / ジョセフソン集積回路 / SSID / /  
(英) SFQ circuits / TOF-MS / TDC / FIFO / Josephson integrated circuits / SSID / /  
文献情報 信学技報, vol. 114, no. 147, SCE2014-26, pp. 13-18, 2014年7月.
資料番号 SCE2014-26 
発行日 2014-07-16 (SCE) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
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PDFダウンロード SCE2014-26 エレソ技報アーカイブへのリンク:SCE2014-26

研究会情報
研究会 SCE  
開催期間 2014-07-23 - 2014-07-23 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) 信号処理基盤技術及びその応用,一般 
テーマ(英) Signal processing technologies and their applications, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 SCE 
会議コード 2014-07-SCE 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 単一磁束量子時間測定回路と超伝導ストリップイオン検出器を用いた高分子の飛行時間型質量分析 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Time-of-Flight Mass Spectrometry of High-Mass Molecules by using a Single-Flux-Quantum Time-to-Digital Converter and a Superconducting Strip Ion Detector 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) SFQ回路 / SFQ circuits  
キーワード(2)(和/英) TOF-MS / TOF-MS  
キーワード(3)(和/英) TDC / TDC  
キーワード(4)(和/英) FIFO / FIFO  
キーワード(5)(和/英) ジョセフソン集積回路 / Josephson integrated circuits  
キーワード(6)(和/英) SSID / SSID  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 佐野 京佑 / Kyosuke Sano / サノ キョウスケ
第1著者 所属(和/英) 横浜国立大学 (略称: 横浜国大)
Yokohama National University (略称: Yokohama National Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 村松 祐希 / Yuki Muramatsu / ムラマツ ユウキ
第2著者 所属(和/英) 横浜国立大学 (略称: 横浜国大)
Yokohama National University (略称: Yokohama National Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 下田 知毅 / Tomoki Shimoda / シモダ トモキ
第3著者 所属(和/英) 横浜国立大学 (略称: 横浜国大)
Yokohama National University (略称: Yokohama National Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 山梨 裕希 / Yuki Yamanashi / ヤマナシ ユウキ
第4著者 所属(和/英) 横浜国立大学 (略称: 横浜国大)
Yokohama National University (略称: Yokohama National Univ.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 吉川 信行 / Nobuyuki Yoshikawa / ヨシカワ ノブユキ
第5著者 所属(和/英) 横浜国立大学 (略称: 横浜国大)
Yokohama National University (略称: Yokohama National Univ.)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 全 伸幸 / Nobuyuki Zen / ゼン ノブユキ
第6著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 大久保 雅隆 / Masataka Ohkubo / オオクボ マサタカ
第7著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
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講演者
発表日時 2014-07-23 10:45:00 
発表時間 25 
申込先研究会 SCE 
資料番号 IEICE-SCE2014-26 
巻番号(vol) IEICE-114 
号番号(no) no.147 
ページ範囲 pp.13-18 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-SCE-2014-07-16 


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