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講演抄録/キーワード
講演名 2014-06-20 14:05
低キャプチャ電力スキャンテスト生成のためのX埋め込み手法
李 富強温 暁青宮瀬紘平ホルスト シュテファン梶原誠司九工大
抄録 (和) 低キャプチャ電力のスキャンテストパターンを生成するため,セルの実効電圧降下
(IR-Drop)との関わりの強いローカル信号値遷移量(LSA: Local Switching
Activity)を抑えるX埋め込み手法を提案する.この手法では,レイアウトレベルの
回路を単位区域に分割した上,各単位区域の遷移量を示すLSAによってテストキュー
ブ中のXビットの優先順位を決めて,伝搬しやすい値を最適論理値として順次Xビット
に割り当てる.実験結果によって,提案手法がLSAを効果的に低減できることが示さ
れた. 
(英) In order to generate a low capture power test pattern, we propose an
X-filling method to suppress local switching activity (LSA), which is a
local signal value transition metric that has a strong correlation with
IR-Drop. In this method, after having divided the layout of a circuit into
unit areas and then determined the priorities of X bits in a test cube based
on the LSA of each unit area, we assign to X bits appropriate logic values
which are easy to propagate. Experimental results show that the proposed
method can effectively reduce the LSA in unit areas.
キーワード (和) 低キャプチャ電力 / IRドロップ / ローカル遷移率 / スキャンテスト / / / /  
(英) Low Capture Power / IR-Drop / Local Switching Activity / At-Speed Scan Test / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 114, no. 99, DC2014-12, pp. 15-20, 2014年6月.
資料番号 DC2014-12 
発行日 2014-06-13 (DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 DC  
開催期間 2014-06-20 - 2014-06-20 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) 設計/テスト/検証,および一般 
テーマ(英) Design/Test/Verification 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2014-06-DC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 低キャプチャ電力スキャンテスト生成のためのX埋め込み手法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A X-Filling Method for Low-Capture-Power Scan Test Generation 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 低キャプチャ電力 / Low Capture Power  
キーワード(2)(和/英) IRドロップ / IR-Drop  
キーワード(3)(和/英) ローカル遷移率 / Local Switching Activity  
キーワード(4)(和/英) スキャンテスト / At-Speed Scan Test  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 李 富強 / Fuqiang Li / リ フッキョウ
第1著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: Kyushu Inst. of Tech.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 温 暁青 / Xiaoqing Wen / オン ギョウセイ
第2著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: Kyushu Inst. of Tech.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 宮瀬 紘平 / Kohei Miyase / ミヤセ コウヘイ
第3著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: Kyushu Inst. of Tech.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) ホルスト シュテファン / Stefan Holst / ホルスト シュテファン
第4著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: Kyushu Inst. of Tech.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 梶原 誠司 / Seiji Kajihara / カジハラ セイジ
第5著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: Kyushu Inst. of Tech.)
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講演者
発表日時 2014-06-20 14:05:00 
発表時間 25 
申込先研究会 DC 
資料番号 IEICE-DC2014-12 
巻番号(vol) IEICE-114 
号番号(no) no.99 
ページ範囲 pp.15-20 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-DC-2014-06-13 


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