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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2014-06-20 11:00 暗号モジュールにおけるサイドチャネル情報を用いた故障発生タイミング特定手法 ○中村 紘・林 優一・水木敬明・本間尚文・青木孝文・曽根秀昭（東北大）  EMCJ2014-11 |
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| 抄録 | （和） | 連続正弦波を用いた意図的な電磁妨害による暗号機器への故障注入手法では，暗号処理時の特定のタイミングで故障を発生させることが難しく，秘密鍵解析に必要となる特定の誤りを含む出力を得ることが困難であった．これに対し，本稿では，ランダムなタイミングで故障を発生させ，得られた誤り出力が鍵解析に利用可能な特定のタイミングで故障が発生したか否かを，暗号機器から生ずるサイドチャネル情報を用いて判定する手法を提案する．実験では，SASEBO-Gに実装したAESハードウェアに対して，特定のタイミングでクロックにグリッチを挿入することで故障を注入し，サイドチャネル情報として，FPGAのVDD/GND間の電圧を時間領域で観測した．故障注入を行ったタイミングでは故障注入を行わない場合に比べて特定のタイミングにおいて電圧波形の振幅が増大し，時間領域における波形が変化したことから，サイドチャネル情報を用いた故障発生タイミングの特定が可能であることが確認された． |
| （英） | This paper describes a new technique to choose faulty ciphertexts available for Differential Fault Analysis (DFA) from those obtained by randomly executing the intentional electromagnetic interference (IEMI) fault-injection method. This technique employs side-channel information as an identifier in order to choose faulty ciphertexts to be suitable for DFA. For a fundamental study, we monitor transient voltage as side-channel information on a cryptographic device in our experiment. As a result, the amplitude of the waveform increased at the timing of fault-injection. This implies that we can choose suitable faulty ciphertexts using such a change of side-channel information in time domain. | |
| キーワード | （和） | サイドチャネル情報 / 意図的な電磁妨害 / 故障発生タイミング / 故障解析 / / / / |
| （英） | Side-channel Information / Intentional Electromagnetic Interference / Failure Timing / Fault Analysis / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 114, no. 93, EMCJ2014-11, pp. 7-12, 2014年6月. | |
| 資料番号 | EMCJ2014-11 | |
| 発行日 | 2014-06-13 (EMCJ) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMCJ2014-11 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ IEE-EMC |
| 開催期間 | 2014-06-20 - 2014-06-20 |
| 開催地（和） | 神戸大 |
| 開催地（英） | Kobe Univ. |
| テーマ（和） | PCB，情報セキュリティ，EMC一般 |
| テーマ（英） | PCB, Information Security, EMC |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMCJ |
| 会議コード | 2014-06-EMCJ-EMC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 暗号モジュールにおけるサイドチャネル情報を用いた故障発生タイミング特定手法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Identification Method of Fault-injected Timing on Cryptographic Devices Using Side-channel Information |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | サイドチャネル情報 / Side-channel Information |
| キーワード(2)（和/英） | 意図的な電磁妨害 / Intentional Electromagnetic Interference |
| キーワード(3)（和/英） | 故障発生タイミング / Failure Timing |
| キーワード(4)（和/英） | 故障解析 / Fault Analysis |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 中村 紘 / Ko Nakamaura / ナカムラ コウ |
| 第1著者 所属（和/英） | 東北大学 (略称： 東北大) Tohoku University (略称： Tohoku Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 林 優一 / Yu-ichi Hayashi / ハヤシ ユウイチ |
| 第2著者 所属（和/英） | 東北大学 (略称： 東北大) Tohoku University (略称： Tohoku Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 水木 敬明 / Takaaki Mizuki / ミズキ タカアキ |
| 第3著者 所属（和/英） | 東北大学 (略称： 東北大) Tohoku University (略称： Tohoku Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 本間 尚文 / Naofumi Homma / ホンマ ナオフミ |
| 第4著者 所属（和/英） | 東北大学 (略称： 東北大) Tohoku University (略称： Tohoku Univ.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 青木 孝文 / Takafumi Aoki / アオキ タカフミ |
| 第5著者 所属（和/英） | 東北大学 (略称： 東北大) Tohoku University (略称： Tohoku Univ.) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 曽根 秀昭 / Hideaki Sone / ソネ ヒデアキ |
| 第6著者 所属（和/英） | 東北大学 (略称： 東北大) Tohoku University (略称： Tohoku Univ.) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2014-06-20 11:00:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | EMCJ |
| 資料番号 | EMCJ2014-11 |
| 巻番号（vol） | vol.114 |
| 号番号（no） | no.93 |
| ページ範囲 | pp.7-12 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2014-06-13 (EMCJ) |
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