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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2014-03-14 10:00 ログメッセージの出力パターンを用いた障害分析手法の試作と評価 ○外川遼介・八木真二郎（NEC）  ICM2013-62 |
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| 抄録 | （和） | 本研究では、障害時の原因箇所の特定を目的として、正常時のログメッセージの出力パターンを用いて分析するために、高精度のパターン生成手法を提案した。原因箇所の特定には、出力パターンを正しく抽出することが重要である。しかし、ログには、異なる処理の同時発生、同一の処理における出力パターンの変化、同一の処理が大量に発生するバースト処理などが含まれるため、処理と一意に対応する出力パターンを正しく抽出することは困難であった。本研究は、正常時の出力パターンを抽出する際に、対象とするログの特性に基づきパターンを生成することで、学習の精度が向上することを示した。今後、実データを用いた分析を進め、障害分析精度のさらなる向上に取り組む。 |
| （英） | Log messages of information systems have specific patterns. They are important for failure analysis to detect error messages. On the other hand, log messages are complicated because of natures of log, such as parallel processes, similar processes, an explosion of a process and a change of order of messages in the pattern. In this paper we propose novel method to extract correct patterns from complicated logs. We introduced constrained conditions based on the natures into pattern extraction. With the experimental result, we showed the proposed method improves the accuracy of pattern extraction. We'll verify the effect on failure analysis with actual data. | |
| キーワード | （和） | ログ / ログメッセージ / 障害原因分析 / パターン / / / / |
| （英） | Log / Log messages / Failure Analysis / Patterns / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 113, no. 492, ICM2013-62, pp. 63-68, 2014年3月. | |
| 資料番号 | ICM2013-62 | |
| 発行日 | 2014-03-06 (ICM) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | ICM2013-62 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICM |
| 開催期間 | 2014-03-13 - 2014-03-14 |
| 開催地（和） | イーフ情報プラザ（久米島） |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | エレメント管理，管理機能，理論・運用方法論，および一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | ICM |
| 会議コード | 2014-03-ICM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | ログメッセージの出力パターンを用いた障害分析手法の試作と評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Mining normal log sequential patterns for failure analysis of enterprise system |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | ログ / Log |
| キーワード(2)（和/英） | ログメッセージ / Log messages |
| キーワード(3)（和/英） | 障害原因分析 / Failure Analysis |
| キーワード(4)（和/英） | パターン / Patterns |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 外川 遼介 / Ryosuke Togawa / トガワ リョウスケ |
| 第1著者 所属（和/英） | 日本電気株式会社 (略称： NEC) NEC Corporation (略称： NEC) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 八木 真二郎 / Shinjiro Yagi / |
| 第2著者 所属（和/英） | 日本電気株式会社 (略称： NEC) NEC Corporation (略称： NEC) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2014-03-14 10:00:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | ICM |
| 資料番号 | ICM2013-62 |
| 巻番号（vol） | vol.113 |
| 号番号（no） | no.492 |
| ページ範囲 | pp.63-68 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2014-03-06 (ICM) |
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