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講演抄録/キーワード
講演名 2014-03-10 16:10
微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~ 接触抵抗変動のモデリング(5) ~
和田真一越田圭治久保田洋彰TMCシステム)・澤 孝一郎日本工大
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抄録 (和) 著者らは,電気接点に実用的振動を与えうるいくつかの加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討してきた.本論文では,開発した微摺動機構2に対して2種類の入力波形(周期的矩形波および周期的衝撃波)を用いて電気接点の劣化現象を引き起こし,接触電圧の時系列変動データを取得する.このデータをカットオフ周波数1.6Hzによって低周波成分と高周波成分とに分け,それぞれに対して位相面解析によりこの時系列変動データには準安定な周期閉軌道および分岐現象が存在することを見出す.また,周波数における大小2つの理論矩形波により,接触電圧の時系列変動データは近似可能であることを示唆する.さらに,理論波の位相面解析にも同様な安定周期閉軌道と分岐現象がみられるが,実験波との差異も存在する.これらの現象は系の入力の非線形性に依存していると考えられるが,振幅や周波数のゆらぎやデータの飛び等に由来すると考えられる差異に関しては,系に内在する非線形性を考慮する必要を示唆する. 
(英) Authors have developed some mechanisms which give real vibration to electrical contacts and have studied the influences of a micro-oscillating on the contact resistance. By using the mechanism, “Micro-Sliding Mechanism II”, which is developed on trial, they obtained time-sequential fluctuation data of contact voltage. It is shown that there are quasi-stable and periodic closed orbits and bifurcation phenomenon in the data by using phase plane analysis. It is indicated that the experimental data are able to be simulated by large and small theoretical rectangular wave in frequency. It is also shown that there are stable and periodic closed orbits and bifurcation phenomenon similar to the above in the theoretical data by using phase plane analysis and that there are different phenomena from the above. It is suggested that there is necessary to consider the non-linearity in the system for analyzing the differences caused by the fluctuation of amplitudes or frequencies and data jumping although the phenomena depend often upon the non-linearity of the inputs into the system.
キーワード (和) 電気接点 / 微小振動 / 接触抵抗 / 微摺動機構 / 非線形性 / 位相面解析 / 軌道 / 分岐  
(英) electrical contact / micro-oscillation / contact resistance / micro-sliding mechanism / non-linearity / phase plane analysis / orbit / bifurcation  
文献情報 信学技報, vol. 113, no. 486, NLP2013-176, pp. 67-72, 2014年3月.
資料番号 NLP2013-176 
発行日 2014-03-03 (NLP) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 NLP  
開催期間 2014-03-10 - 2014-03-11 
開催地(和) 上智大学 
開催地(英) Sophia University 
テーマ(和) 一般 
テーマ(英) General 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 NLP 
会議コード 2014-03-NLP 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 微摺動機構による電気接点の劣化現象 
サブタイトル(和) 接触抵抗変動のモデリング(5) 
タイトル(英) Degradation Phenomenon of Electrical Contacts by using a Micro-Sliding Mechanism 
サブタイトル(英) Modeling about Fluctuation of Contact Resistance (5) 
キーワード(1)(和/英) 電気接点 / electrical contact  
キーワード(2)(和/英) 微小振動 / micro-oscillation  
キーワード(3)(和/英) 接触抵抗 / contact resistance  
キーワード(4)(和/英) 微摺動機構 / micro-sliding mechanism  
キーワード(5)(和/英) 非線形性 / non-linearity  
キーワード(6)(和/英) 位相面解析 / phase plane analysis  
キーワード(7)(和/英) 軌道 / orbit  
キーワード(8)(和/英) 分岐 / bifurcation  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 和田 真一 / Shin-ichi Wada / ワダ シンイチ
第1著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC System)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 越田 圭治 / Keiji Koshida / コシダ ケイジ
第2著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC System)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 久保田 洋彰 / Hiroaki Kubota / クボタ ヒロアキ
第3著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC System)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 澤 孝一郎 / Koichiro Sawa / サワ コウイチロウ
第4著者 所属(和/英) 日本工業大学 (略称: 日本工大)
Nippon Institute of Technology (略称: Nippon Inst. of Tech.)
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講演者
発表日時 2014-03-10 16:10:00 
発表時間 25 
申込先研究会 NLP 
資料番号 IEICE-NLP2013-176 
巻番号(vol) IEICE-113 
号番号(no) no.486 
ページ範囲 pp.67-72 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-NLP-2014-03-03 


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