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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2014-03-05 10:50 Analysis of Radiation-Induced Errors in PLL based on Behavioral Modeling ○SinNyoung Kim（Kyoto Univ.）・Tomohiro Fujita（Ritsumeikan Univ.）・Akira Tsuchiya・Hidetoshi Onodera（Kyoto Univ.）  VLD2013-158 |
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| 抄録 | （和） | This paper presents an analysis of radiation-induced errors in PLL based on behavioral modeling. Radiation strike leads to errors in PLLs. Effects of the radiation-induced errors are different for times and locations of radiation strikes. Conventional works examine all possibility to evaluate radiation effect on PLLs. To avoid such a brute-force analysis, a behavioral model of radiation-induced errors is developed. The behavioral model facilitates analysis of radiation effect on the whole PLL. As a result of the analysis, numerical data of radiation effect on the PLL are provided for locations and times of a radiation strike. |
| （英） | This paper presents an analysis of radiation-induced errors in PLL based on behavioral modeling. Radiation strike leads to errors in PLLs. Effects of the radiation-induced errors are different for times and locations of radiation strikes. Conventional works examine all possibility to evaluate radiation effect on PLLs. To avoid such a brute-force analysis, a behavioral model of radiation-induced errors is developed. The behavioral model facilitates analysis of radiation effect on the whole PLL. As a result of the analysis, numerical data of radiation effect on the PLL are provided for locations and times of a radiation strike. | |
| キーワード | （和） | PLL / Soft error / Behavioral model / / / / / |
| （英） | PLL / Soft error / Behavioral model / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 113, no. 454, VLD2013-158, pp. 131-136, 2014年3月. | |
| 資料番号 | VLD2013-158 | |
| 発行日 | 2014-02-24 (VLD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2013-158 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD |
| 開催期間 | 2014-03-03 - 2014-03-05 |
| 開催地（和） | 沖縄県青年会館 |
| 開催地（英） | Okinawa Seinen Kaikan |
| テーマ（和） | システムオンシリコンを支える設計技術 |
| テーマ（英） | Design Technology for System-on-Silicon |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | VLD |
| 会議コード | 2014-03-VLD |
| 本文の言語 | 英語 |
| タイトル（和） | |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Analysis of Radiation-Induced Errors in PLL based on Behavioral Modeling |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | PLL / PLL |
| キーワード(2)（和/英） | Soft error / Soft error |
| キーワード(3)（和/英） | Behavioral model / Behavioral model |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 金 信寧 / SinNyoung Kim / キム シンニョン |
| 第1著者 所属（和/英） | 京都大学 (略称： 京大) Kyoto University (略称： Kyoto Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 藤田 智弘 / Tomohiro Fujita / フジタ トモヒロ |
| 第2著者 所属（和/英） | 立命館大学 (略称： 立命館大) Ritsumeikan University (略称： Ritsumeikan Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 土谷 亮 / Akira Tsuchiya / ツチヤ アキラ |
| 第3著者 所属（和/英） | 京都大学 (略称： 京大) Kyoto University (略称： Kyoto Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小野寺 秀俊 / Hidetoshi Onodera / オノデラ ヒデトシ |
| 第4著者 所属（和/英） | 京都大学 (略称： 京大) Kyoto University (略称： Kyoto Univ.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2014-03-05 10:50:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | VLD |
| 資料番号 | VLD2013-158 |
| 巻番号（vol） | vol.113 |
| 号番号（no） | no.454 |
| ページ範囲 | pp.131-136 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2014-02-24 (VLD) |
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