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講演抄録/キーワード
講演名 2014-02-21 14:30
真の接触面での電流集中におよぼす自己磁界の影響
玉井輝雄エルコンテック)・澤田 滋服部康弘オートネットワーク技研R2013-87 EMD2013-143 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2013-143
抄録 (和) 真の接触部は見かけの接触面に比べて非常に小さいので、そこを流れる電流は絞り込まれ集中する。これに起因する接触抵抗は集中抵抗と呼ばれている。集中抵抗は空間電位を与えるLaplace の方程式の境界値問題として解かれてきた。しかし、電流の流れを決めるのに電位分布だけでは不十分で、電磁気学的には電流自身による磁界の発生と電流との鎖交を考慮しなければ片手落ちである。そこで、ここでは、真の円形接触面が一個の場合と、接近して存在する二個の場合について、自己磁界の影響を取り上げた。つまり、電流集中に対するその電流自身によるLorentz 力の作用を求め考察した。その結果、電流が十分に低い場合は電流集中に対するその影響はあまり大きくないが、電流値が大きくなるとその影響は無視できなくなる。 
(英) As size of true contact are in contact interface is very small comparing apparent area, the current which flow the true contact area is constricted. Contact resistance caused by this constriction of current is called as constriction resistance. The constriction resistance has been obtained by solving Laplace equation which gives space potential. However, it is not sufficient to determine the constriction resistance only by using potential distribution in space. This is one sidedness, interaction between the current and self-magnetic field should be taken account in consideration. Therefore, here, effect of self-magnetic field on constriction resistance was studied on both for one true contact area and two true contact areas with very close distance. Namely, effect of Lorentz force on constriction op current was deduced. As results, effect of Lorentz force is not effective for lower level current, on the other hand, for higher current, current effect is not ignored
キーワード (和) 電気接触部 / 接触抵抗 / 集中抵抗 / 電流集中 / Lorentz力 / / /  
(英) electric contact / contact resistance / constriction resistance / current constriction / Lorentz force / / /  
文献情報 信学技報, vol. 113, no. 438, EMD2013-143, pp. 19-24, 2014年2月.
資料番号 EMD2013-143 
発行日 2014-02-14 (R, EMD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード R2013-87 EMD2013-143 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2013-143

研究会情報
研究会 EMD R  
開催期間 2014-02-21 - 2014-02-21 
開催地(和) パナソニック「松心会館」 
開催地(英)  
テーマ(和) 機構デバイスの信頼性、信頼性一般 (共催:継電器・コンタクトテクノロジー研究会、IEEE CPMT JAPAN、IEEE Reliability Society Japan Chapter、 協賛:日本信頼性学会) 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMD 
会議コード 2014-02-EMD-R 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 真の接触面での電流集中におよぼす自己磁界の影響 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Effect of self-magnetic field on current flowing through true contact area 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 電気接触部 / electric contact  
キーワード(2)(和/英) 接触抵抗 / contact resistance  
キーワード(3)(和/英) 集中抵抗 / constriction resistance  
キーワード(4)(和/英) 電流集中 / current constriction  
キーワード(5)(和/英) Lorentz力 / Lorentz force  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 玉井 輝雄 / Terutaka Tamai / タマイ テルタカ
第1著者 所属(和/英) エルコンテックコンサルティング (略称: エルコンテック)
Elcontech Consulting, Inc. (略称: Elcontech)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 澤田 滋 / Shigeru Sawada / サワダ シゲル
第2著者 所属(和/英) オートネットワーク技術研究所 (略称: オートネットワーク技研)
AutoNetworks Technology, Ltd (略称: AutoNetworks)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 服部 康弘 / Yasuhiro Hattori /
第3著者 所属(和/英) オートネットワーク技術研究所 (略称: オートネットワーク技研)
AutoNetworks Technology, Ltd (略称: AutoNetworks)
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講演者 第1著者 
発表日時 2014-02-21 14:30:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 EMD 
資料番号 R2013-87, EMD2013-143 
巻番号(vol) vol.113 
号番号(no) no.437(R), no.438(EMD) 
ページ範囲 pp.19-24 
ページ数
発行日 2014-02-14 (R, EMD) 


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