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講演抄録/キーワード
講演名 2014-02-10 12:25
メルセンヌ・ツイスタアルゴリズムにもとづいた効果的なテストパターン生成器の提案
里中沙矢香岩田大志山口賢一奈良高専
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抄録 (和) 高い信頼性かつ低コストな出荷テストを行うために,BISTではテストパターン生成器としてLFSRが広く用いられている.しかし,LFSRでは順序回路に対して十分な故障検出率が得られない場合があった.本研究では,LFSRの代わりにメルセンヌ・ツイスタアルゴリズムをテストパターン生成器として用い,BISTとしてVLSIに実装することを提案する.メルセンヌ・ツイスタアルゴリズムとは,疑似乱数生成手法であり,乱数性が良く,周期が非常に長いという特徴を持つ.実験の結果,メルセンヌ・ツイスタアルゴリズムはLFSRに比べて高い故障検出率を達成し,許容可能な面積で実装できることが分かった. 
(英) To perform a high reliable manufacturing test with a reasonable cost, LFSR is widely used as test pattern generator. However, the LFSR-based pseudo random patterns are not suitable for sequential circuits.In this paper, we supposed that the Mersenne Twister is used as the test pattern generator instead of the LFSR to implement BIST into VLSIs. Mersenne Twister is one of pseudo random number generation algorithm and has the two advantages that are good randomness and huge period.Experimental results show that the test patterns generated through the Mersenne Twister are efficient with respect to the fault coverage and it is implemented with a comparable cost to the LFSR.
キーワード (和) 出荷テスト / 組込み自己テスト / テストパターン生成器 / 線形帰還シフトレジスタ / メルセンヌ・ツイスタ / / /  
(英) Manufacturing Test / BIST / Test Pattern Generator / Linear Feedback Shift Register / Mersenne Twister / / /  
文献情報 信学技報, vol. 113, no. 430, DC2013-86, pp. 43-48, 2014年2月.
資料番号 DC2013-86 
発行日 2014-02-03 (DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 DC  
開催期間 2014-02-10 - 2014-02-10 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) VLSI設計とテストおよび一般 
テーマ(英) VLSI Design and Test, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2014-02-DC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) メルセンヌ・ツイスタアルゴリズムにもとづいた効果的なテストパターン生成器の提案 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) An Efficient Test Pattern Generator based on Mersenne Twister algorithm 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 出荷テスト / Manufacturing Test  
キーワード(2)(和/英) 組込み自己テスト / BIST  
キーワード(3)(和/英) テストパターン生成器 / Test Pattern Generator  
キーワード(4)(和/英) 線形帰還シフトレジスタ / Linear Feedback Shift Register  
キーワード(5)(和/英) メルセンヌ・ツイスタ / Mersenne Twister  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 里中 沙矢香 / Sayaka Satonaka / サトナカ サヤカ
第1著者 所属(和/英) 奈良工業高等専門学校 (略称: 奈良高専)
Nara National College of Technology (略称: NNCT)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 岩田 大志 / Hiroshi Iwata / イワタ ヒロシ
第2著者 所属(和/英) 奈良工業高等専門学校 (略称: 奈良高専)
Nara National College of Technology (略称: NNCT)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 山口 賢一 / Ken'ichi Yamaguchi / ヤマグチ ケンイチ
第3著者 所属(和/英) 奈良工業高等専門学校 (略称: 奈良高専)
Nara National College of Technology (略称: NNCT)
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講演者
発表日時 2014-02-10 12:25:00 
発表時間 25 
申込先研究会 DC 
資料番号 IEICE-DC2013-86 
巻番号(vol) IEICE-113 
号番号(no) no.430 
ページ範囲 pp.43-48 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-DC-2014-02-03 


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