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講演抄録/キーワード
講演名 2014-01-29 14:50
FPGAにおける特性ばらつきとBTI劣化の測定結果に基づく性能予測
籔内美智太郎小林和淑京都工繊大
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抄録 (和) 65nmプロセスFPGAにおけるBTIによる経年劣化現象の回路への影響を測定データ
を元にモデル化し,長期的な劣化の予測手法を提案する。近年,最先端微細プロ
セスで製造されるFPGAにおいて,BTIによる経年劣化の回路動作への影響は深刻化
している。BTIの影響にはデバイス毎に異なっており,従来は回路の劣化を長期的に
予測することは困難であった。本発表ではFPGAにコンフィギュレーションしたリ
ングオシレータを用いた特性ばらつきと経年劣化現象の測定デー
タから,デバイスの特性に基づいた劣化予測をモデル化する。提
案する劣化予測モデルによるとBTIによる経年劣化が最悪値
になる場合,10年経過後にリングオシレータの発振周波数は4%減少することが分かった。 
(英) We propose a prediction model for BTI-induced degradation by
measurement data on 65nm-process FPGAs. BTI-induced degradation is
becoming an important reliability problem on highly scaled FPGAs.
The degradation prediction is indispensable. But it is hard to predict the
amount of degradations because the aging process is fluctuated by
random device characteristics. We measure and analyze process variations
and the aging degradation by ring oscillators on 60nm FPGAs.
In this paper, the prediction model for process variations and BTI is
proposed and the frequency of the worst case ring oscillator is
decreasing 4% for 10years.
キーワード (和) FPGA / BTI / 経年劣化予測 / 信頼性 / 特性ばらつき / / /  
(英) FPGA / degradation prediction / reliability / process variation / BTI / / /  
文献情報 信学技報, vol. 113, no. 416, VLD2013-129, pp. 161-166, 2014年1月.
資料番号 VLD2013-129 
発行日 2014-01-21 (VLD, CPSY, RECONF) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 IPSJ-SLDM CPSY RECONF VLD  
開催期間 2014-01-28 - 2014-01-29 
開催地(和) 慶応義塾大学 日吉キャンパス 
開催地(英) Hiyoshi Campus, Keio University 
テーマ(和) FPGA応用および一般 
テーマ(英) FPGA Applications, etc 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 VLD 
会議コード 2014-01-SLDM-CPSY-RECONF-VLD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) FPGAにおける特性ばらつきとBTI劣化の測定結果に基づく性能予測 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Prediction Model for Process Variation and BTI-Induced Degradation by Measurement Data on FPGA 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) FPGA / FPGA  
キーワード(2)(和/英) BTI / degradation prediction  
キーワード(3)(和/英) 経年劣化予測 / reliability  
キーワード(4)(和/英) 信頼性 / process variation  
キーワード(5)(和/英) 特性ばらつき / BTI  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 籔内 美智太郎 / Michitarou Yabuuchi / ヤブウチ ミチタロウ
第1著者 所属(和/英) 京都工芸繊維大学 (略称: 京都工繊大)
Kyoto Institute of Technology (略称: Kyoto Inst. of Tech.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 小林 和淑 / Kazutoshi Kobayashi / コバヤシ カズトシ
第2著者 所属(和/英) 京都工芸繊維大学 (略称: 京都工繊大)
Kyoto Institute of Technology (略称: Kyoto Inst. of Tech.)
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講演者
発表日時 2014-01-29 14:50:00 
発表時間 25 
申込先研究会 VLD 
資料番号 IEICE-VLD2013-129,IEICE-CPSY2013-100,IEICE-RECONF2013-83 
巻番号(vol) IEICE-113 
号番号(no) no.416(VLD), no.417(CPSY), no.418(RECONF) 
ページ範囲 pp.161-166 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-VLD-2014-01-21,IEICE-CPSY-2014-01-21,IEICE-RECONF-2014-01-21 


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