講演抄録/キーワード |
講演名 |
2014-01-28 15:00
[ポスター講演]NANDフラッシュメモリ向けエラー予測LDPC符号 ○徳冨 司(中大)・田中丸周平(中大/東大)・竹内 健(中大) ICD2013-108 エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2013-108 |
抄録 |
(和) |
NANDフラッシュメモリの信頼性を改善するために、エラー予測LDPC符号が提案された。LDPC符号は従来のエラー訂正符号であるBCH符号と比べて高信頼であるが、読み出しにかかる時間が問題となっている。そこでエラー予測LDPC符号は、NANDフラッシュメモリのエラーの起きる様々な要因 (しきい値電圧、書き換え回数、データ保持時間、セル間の容量結合) からエラーを予測することで、読み出し時間を大幅に削減することができるLDPC符号である。本論文では、エラー予測LDPC符号を使用した場合の書き込みディスターブエラー、データ保持エラーに対する効果を検証し、BCH符号を使用した場合と比較を行った。 |
(英) |
Error-Prediction LDPC (EP-LDPC) error correcting code (ECC) was proposed to improve the reliability of NAND flash memories. LDPC ECC is high reliability compared with the conventional BCH ECC. However the long read access time is the problem. EP-LDPC ECC can reduce the read access time by estimating errors from many factors (VTH, write/erase cycles, data-retention time, and inter-cell coupling information). This paper verifies the effectiveness of EP-LDPC ECC for the program-disturb and the data-retention error and compares with the BCH ECC. |
キーワード |
(和) |
ソリッド・ステート・ドライブ / NANDフラッシュメモリ / LDPC符号 / 信頼性 / / / / |
(英) |
solid-state-drive / NAND flash memory / LDPC / reliability / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 113, no. 419, ICD2013-108, pp. 23-23, 2014年1月. |
資料番号 |
ICD2013-108 |
発行日 |
2014-01-21 (ICD) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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