お知らせ 2023年度・2024年度 学生員 会費割引キャンペーン実施中です
お知らせ 技術研究報告と和文論文誌Cの同時投稿施策(掲載料1割引き)について
お知らせ 電子情報通信学会における研究会開催について
お知らせ NEW 参加費の返金について
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
講演論文 詳細
技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
 トップに戻る 前のページに戻る   [Japanese] / [English] 

講演抄録/キーワード
講演名 2014-01-28 15:00
[ポスター講演]抵抗変化型メモリ(ReRAM)のデータ保持特性の解析
山沢裕紀中大)・田中丸周平中大/東大)・竹内 健中大ICD2013-114 エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2013-114
抄録 (和) 抵抗変化型メモリ(Resistive RAM; ReRAM)は、高い耐久性かつ低消費電力、高速な読み書きが可能なため次世代不揮発メモリとして注目されている。Formingという電圧を与えることで導電性のフィラメントが成長し、ReRAMはメモリとして使用可能となる。Formingと逆・同方向の電圧パルスを与える(Reset/Set)と、フィラメントが破壊・再成長して高・低抵抗状態になる。抵抗値の大小が“1”または“0”のデータに割り当てられる。本論文では、ReRAMのデータ保持時における信頼性の評価の結果を報告する。 
(英) Resistive RAM (ReRAM) is one of the most promising candidates for next generation nonvolatile memories due to its potential to provide fast write and read, high endurance and low power operation. A conductive filament is generated by a voltage pulse called Forming. ReRAM becomes high/low resistance state when a conductive filament is destroyed/regrown by voltage pulse of reverse/same direction to/as Forming, respectively. High or low resistance is assigned to “1” or “0”. This paper reports data-retention reliability evaluation of ReRAM.
キーワード (和) ReRAM / 信頼性 / データ保持 / / / / /  
(英) ReRAM / reliability / data-retention / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 113, no. 419, ICD2013-114, pp. 37-37, 2014年1月.
資料番号 ICD2013-114 
発行日 2014-01-21 (ICD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード ICD2013-114 エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2013-114

研究会情報
研究会 ICD  
開催期間 2014-01-28 - 2014-01-29 
開催地(和) 京都大学時計台記念館 
開催地(英) Kyoto Univ. Tokeidai Kinenkan 
テーマ(和) 学生・若手研究会 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ICD 
会議コード 2014-01-ICD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 抵抗変化型メモリ(ReRAM)のデータ保持特性の解析 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Analyzing Data-Retention Characteristics of ReRAM 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) ReRAM / ReRAM  
キーワード(2)(和/英) 信頼性 / reliability  
キーワード(3)(和/英) データ保持 / data-retention  
キーワード(4)(和/英) /  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 山沢 裕紀 / Hiroki Yamazawa / ヤマザワ ヒロキ
第1著者 所属(和/英) 中央大学 (略称: 中大)
Chuo University (略称: Chuo Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 田中丸 周平 / Shuhei Tanakamaru / タナカマル シュウヘイ
第2著者 所属(和/英) 中央大学/東京大学 (略称: 中大/東大)
Chuo University/University of Tokyo (略称: Chuo Univ./Univ. of Tokyo)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 竹内 健 / Ken Takeuchi / タケウチ ケン
第3著者 所属(和/英) 中央大学 (略称: 中大)
Chuo University (略称: Chuo Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第4著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第5著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第6著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第7著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第8著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第9著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第10著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第11著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第12著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第13著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第14著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第15著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第16著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第17著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第18著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第19著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第20著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
講演者 第1著者 
発表日時 2014-01-28 15:00:00 
発表時間 120分 
申込先研究会 ICD 
資料番号 ICD2013-114 
巻番号(vol) vol.113 
号番号(no) no.419 
ページ範囲 p.37 
ページ数
発行日 2014-01-21 (ICD) 


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会