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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2014-01-25 11:22 SOITE法を用いたフレクソエレクトリック係数の評価 ○渡辺大樹（長岡技科大）・高橋泰樹（工学院大）・木村宗弘・赤羽正志（長岡技科大）  EID2013-31 エレソ技報アーカイブへのリンク：EID2013-31 |
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| 抄録 | （和） | 液晶は、広がりや曲がりの配向歪を与えると電気分極が発生する。この現象をフレクソエレクトリック効果と呼ぶ。フレクソエレクトリック係数を求める方法はいくつか報告があるが、代表的な液晶材料一つについても報告者によって値はおろか符号まで異なっている。本研究では、ハイブリッド配向液晶セルに対して直流電界を印加した時の配向変形によって生じる透過光変化を分光エリプソメトリーによって測定し、フレクソエレクトリック係数の評価を試みた。多重反射及び多重干渉の影響を相殺出来るSOITE法を用いることで、従来法よりも精度の高いフレクソエレクトリック係数の評価が可能である。本報告では、実験結果とシミュレーションとのフィッティングにより、フレクソエレクトリック係数の和(e11+e33）とセル厚dを決定することが可能であることを示した。 |
| （英） | It is well known that the electric polarization arises from the bend or spray distortion of the orientation. This phenomenon is called flexoelectric effect. Up to today, several kinds of measurement methods of the flexoelectric coefficient have been reported. However, the sign and/or the absolute value of the measured flexoelectric coefficient were different between the reports with regards to the common material. In this study, flexoelectric coefficient was investigated by the symmetric oblique incidence transmission Ellipsometry (SOITE). The state of polarization of the transmitted light through a hybrid aligned liquid crystal cell is changed by the applied DC electric field and the director reorientation. The outstanding feature of the SOITE is that the multiple reflection and multiple interference can be offset. We propose that the cell thickness and sum of the flexoelectric coefficients (e11+e33) can be obtained by experiment and numerical fitting procedure. | |
| キーワード | （和） | 液晶 / フレクソエレクトリック効果 / エリプソメトリー / / / / / |
| （英） | Liquid crystal / flexoelectric effect / ellipsometry / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 113, no. 408, EID2013-31, pp. 125-128, 2014年1月. | |
| 資料番号 | EID2013-31 | |
| 発行日 | 2014-01-17 (EID) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EID2013-31 エレソ技報アーカイブへのリンク：EID2013-31 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EID ITE-IDY IEIJ-SSL IEE-EDD SID-JC |
| 開催期間 | 2014-01-24 - 2014-01-25 |
| 開催地（和） | 新潟大学 駅南キャンパス |
| 開催地（英） | Niigata University |
| テーマ（和） | 発光型／非発光型ディスプレイ合同研究会 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EID |
| 会議コード | 2014-01-EID-IDY-SSL-EDD-JC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | SOITE法を用いたフレクソエレクトリック係数の評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Evaluation of flexoelectric coefficients by using the SOITE method |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 液晶 / Liquid crystal |
| キーワード(2)（和/英） | フレクソエレクトリック効果 / flexoelectric effect |
| キーワード(3)（和/英） | エリプソメトリー / ellipsometry |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 渡辺 大樹 / Taiki Watanabe / ワタナベ タイキ |
| 第1著者 所属（和/英） | 長岡技術科学大学 (略称： 長岡技科大) Nagaoka University of Technology (略称： Nagaoka Univ. of Tech.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 高橋 泰樹 / Taiju Takahashi / タカハシ タイジュ |
| 第2著者 所属（和/英） | 工学院大学 (略称： 工学院大) Kogakuin University (略称： Kougakuin Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 木村 宗弘 / Munehiro Kimura / キムラ ムネヒロ |
| 第3著者 所属（和/英） | 長岡技術科学大学 (略称： 長岡技科大) Nagaoka University of Technology (略称： Nagaoka Univ. of Tech.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 赤羽 正志 / Tadashi Akahane / アカハネ タダシ |
| 第4著者 所属（和/英） | 長岡技術科学大学 (略称： 長岡技科大) Nagaoka University of Technology (略称： Nagaoka Univ. of Tech.) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2014-01-25 11:22:00 |
| 発表時間 | 8分 |
| 申込先研究会 | EID |
| 資料番号 | EID2013-31 |
| 巻番号（vol） | vol.113 |
| 号番号（no） | no.408 |
| ページ範囲 | pp.125-128 |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2014-01-17 (EID) |
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