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講演抄録/キーワード
講演名 2014-01-23 14:20
走査SQUIDプローブ顕微鏡におけるプローブの磁束伝達特性
宮戸祐治松井保憲糸崎秀夫阪大SCE2013-44 エレソ技報アーカイブへのリンク:SCE2013-44
抄録 (和) 本研究では、フラックスガイドとして高透磁率のプローブを用いることを特徴とし、走査プローブ顕微鏡と磁場センサのSQUIDを組み合わせた走査SQUIDプローブ顕微鏡を開発してきた。本顕微鏡により、さまざまな試料の局所的な磁場観察をおこなってきたが、現在、磁場感度を向上することが課題である。そこで、試料からプローブを介してSQUIDに至るまでの磁束伝達特性をシミュレーションにより調べ、プローブ先端から導かれた磁場を効率的にSQUIDまで伝達することができるように、プローブおよびSQUIDの形状、またそれらの配置に関して検討した。その結果、プローブ末端付近で磁束が大きく減衰していることが明らかとなり、できる限りSQUIDにプローブ末端を近づけ、プローブとSQUIDの磁気結合を改善することが重要であることが分かった。 
(英) We have developed a scanning SQUID probe microscope, in which a SQUID magnetic sensor is combined with scanning probe microscope. The microscope features the probe with high permeability used as a flux guide. We have taken the magnetic images of several types of samples with high resolution. However, it is required to improve its magnetic sensitivity. We investigated the flux guide characteristics through the probe from the sample to the SQUID by magnetic simulations. We also discussed the shapes of the probe and SQUID and their positional relation to guide the magnetic flux efficiently. The magnetic flux loss was dominant around the end of the probe. It is important to bring the probe end as close to the SQUID as possible, resulting in improvements of the magnetic coupling between the probe and SQUID.
キーワード (和) SQUID / 走査プローブ顕微鏡 / 磁束伝達 / 磁場感度 / / / /  
(英) SQUID / Scanning probe microscope / Flux guide / Magnetic sensitivity / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 113, no. 401, SCE2013-44, pp. 55-60, 2014年1月.
資料番号 SCE2013-44 
発行日 2014-01-16 (SCE) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード SCE2013-44 エレソ技報アーカイブへのリンク:SCE2013-44

研究会情報
研究会 SCE  
開催期間 2014-01-23 - 2014-01-24 
開催地(和) 機械振興会館地下3階2号室 
開催地(英) Kikaishinkou-kaikan Bldg. 
テーマ(和) 薄膜、デバイス技術及びその応用、一般 
テーマ(英) Thin film, device technologies and their applications, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 SCE 
会議コード 2014-01-SCE 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 走査SQUIDプローブ顕微鏡におけるプローブの磁束伝達特性 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Magnetic flux guide characteristics through probe in scanning SQUID probe microscope 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) SQUID / SQUID  
キーワード(2)(和/英) 走査プローブ顕微鏡 / Scanning probe microscope  
キーワード(3)(和/英) 磁束伝達 / Flux guide  
キーワード(4)(和/英) 磁場感度 / Magnetic sensitivity  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 宮戸 祐治 / Yuji Miyato / ミヤト ユウジ
第1著者 所属(和/英) 大阪大学 (略称: 阪大)
Osaka University (略称: Osaka Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 松井 保憲 / Yasunori Matsui / マツイ ヤスノリ
第2著者 所属(和/英) 大阪大学 (略称: 阪大)
Osaka University (略称: Osaka Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 糸崎 秀夫 / Hideo Itozaki / イトザキ ヒデオ
第3著者 所属(和/英) 大阪大学 (略称: 阪大)
Osaka University (略称: Osaka Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2014-01-23 14:20:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 SCE 
資料番号 SCE2013-44 
巻番号(vol) vol.113 
号番号(no) no.401 
ページ範囲 pp.55-60 
ページ数
発行日 2014-01-16 (SCE) 


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