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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2013-10-25 17:05 漏えい情報を用いた注入タイミングを制御可能な暗号モジュール外部からの故障注入メカニズムに関する検討 ○小林瑞樹・林 優一・本間尚文・水木敬明・青木孝文・曽根秀昭（東北大）  EMCJ2013-90 MW2013-130 EST2013-82 エレソ技報アーカイブへのリンク：MW2013-130 EST2013-82 |
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| 抄録 | （和） | これまで，暗号モジュールに対する故障注入攻撃は，モジュールのごく近傍で，モジュールもしくはモジュールが実装されている機器（暗号機器）の改変・侵襲による故障の注入を想定してきた．本稿では，暗号機器に接続された電源ケーブルを通して，機器外部から非侵襲で特定の処理に故障を注入する手法とその注入メカニズムについて報告する．同手法では，暗号処理に応じて発生するコモンモード電流を観測することで注入のタイミングを取得し，得られたタイミングに基づいて数V程度の正弦波を電源ケーブル上に印加する．実験では，SASEBO-Gに実装したAESハードウェアに対して固定の平文を与えて暗号処理を実行し，機器に接続された電源ケーブルからカレントプローブを用いてコモンモード電流を観測するとともに，得られたタイミングで同電源ケーブルからシグナルジェネレータにより正弦波を連続的に印加した．その結果，出力として観測された誤り暗文から，同手法により特定のラウンド処理中に誤りが発生することを確認した．また，提案手法により生ずる誤りは，注入正弦波がクロックに重畳することでオーバークロックが発生し引き起こされることを実験的に明らかにした． |
| （英） | In this paper, we introduce a new type of intentional electromagnetic interference (IEMI) fault-injection method with timing control based on leaked information. We demonstrate the fault injection attack based on the above IEMI through experiments using an Advanced Encryption Standard (AES) module implemented on a standard evaluation board (SASEBO). The experimental results indicate that generating effective faults is feasible. This paper also investigates a mechanism of faulty outputs from cryptographic modules due to the proposal method. We show the mechanism of fault occurrence through experiments using faulty ciphertexts and a sinusoidal wave injection to the specific round. The experimental results indicate that faulty outputs from cryptographic modules are caused by the overclocking to the cryptographic module. | |
| キーワード | （和） | 意図的な電磁妨害 / コモンモード電流 / 故障利用解析 / サイドチャネル解析 / / / / |
| （英） | Intentional Electromagnetic Interference / Common-mode Current / Fault Analysis / Side-channel Analysis / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 113, no. 259, EMCJ2013-90, pp. 175-179, 2013年10月. | |
| 資料番号 | EMCJ2013-90 | |
| 発行日 | 2013-10-17 (EMCJ, MW, EST) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMCJ2013-90 MW2013-130 EST2013-82 エレソ技報アーカイブへのリンク：MW2013-130 EST2013-82 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ IEE-EMC MW EST |
| 開催期間 | 2013-10-24 - 2013-10-25 |
| 開催地（和） | 東北大 青葉山キャンパス |
| 開催地（英） | Tohoku Univ. |
| テーマ（和） | EMC一般, マイクロ波, 電磁界解析 |
| テーマ（英） | EMC, Micro wave, Electromagnetic analysis, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMCJ |
| 会議コード | 2013-10-EMCJ-EMC-MW-EST |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 漏えい情報を用いた注入タイミングを制御可能な暗号モジュール外部からの故障注入メカニズムに関する検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Fundamental Study on a Mechanism of Non-invasive Fault-injection at Arbitrary Timing of Cryptographic Processing |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 意図的な電磁妨害 / Intentional Electromagnetic Interference |
| キーワード(2)（和/英） | コモンモード電流 / Common-mode Current |
| キーワード(3)（和/英） | 故障利用解析 / Fault Analysis |
| キーワード(4)（和/英） | サイドチャネル解析 / Side-channel Analysis |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小林 瑞樹 / Mizuki Kobayashi / コバヤシ ミズキ |
| 第1著者 所属（和/英） | 東北大学 (略称： 東北大) Tohoku University (略称： Tohoku Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 林 優一 / Yu-ichi Hayashi / ハヤシ ユウイチ |
| 第2著者 所属（和/英） | 東北大学 (略称： 東北大) Tohoku University (略称： Tohoku Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 本間 尚文 / Naofumi Homma / ホンマ ナオフミ |
| 第3著者 所属（和/英） | 東北大学 (略称： 東北大) Tohoku University (略称： Tohoku Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 水木 敬明 / Takaaki Mizuki / ミズキ タカアキ |
| 第4著者 所属（和/英） | 東北大学 (略称： 東北大) Tohoku University (略称： Tohoku Univ.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 青木 孝文 / Takafumi Aoki / アオキ タカフミ |
| 第5著者 所属（和/英） | 東北大学 (略称： 東北大) Tohoku University (略称： Tohoku Univ.) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 曽根 秀昭 / Hideaki Sone / ソネ ヒデアキ |
| 第6著者 所属（和/英） | 東北大学 (略称： 東北大) Tohoku University (略称： Tohoku Univ.) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2013-10-25 17:05:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | EMCJ |
| 資料番号 | EMCJ2013-90, MW2013-130, EST2013-82 |
| 巻番号（vol） | vol.113 |
| 号番号（no） | no.259(EMCJ), no.260(MW), no.261(EST) |
| ページ範囲 | pp.175-179 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2013-10-17 (EMCJ, MW, EST) |
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