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講演抄録/キーワード
講演名 2013-10-24 13:55
自己発熱がBi-2212固有ジョセフソン接合の発振特性に及ぼす影響
西方 翼小瀧侑央加藤孝弘長岡技科大)・石田弘樹富山高専)・末松久幸玉山泰宏長岡技科大)・川上 彰NICT)・安井寛治長岡技科大CPM2013-94 エレソ技報アーカイブへのリンク:CPM2013-94
抄録 (和) 私たちは希塩酸(pH=1.65)処理とフォトリソグラフィを用いることによって,Bi2Sr2CaCu2Ox(Bi-2212) 単結晶上に検出素子と共に集積化させたテラヘルツ発振素子の作製してきた.それらのスタックは同じ結晶上に形成され,BiOClによって絶縁されている.発振素子IJJスタックの横方向寸法は数百μm2以上で,一方で検出素子は約10×10 μm2であった.
発振素子スタックからの電磁波の放射を観測するために,発振素子スタックの直流バイアスをスイープしている間中,検出素子のゼロ電圧電流を測定した.液体窒素中で,発振素子スタックの電流-電圧特性上のキンク状構造上に直流バイアスされている時に,検出素子のゼロ電圧電流は最も強く抑制された.しかしながら,このキンク状構造はヘリウムや窒素ガスのような冷却ガスで77K近傍まで冷やしても,観測されなかった.この結果は,大きいサイズのBi-2212 IJJsの発振特性は冷却方法に強く影響している. 
(英) We have been successfully fabricated an integrated THz oscillator stack with detector stack in Bi2Sr2CaCu2O8+δ (Bi-2212) single crystal by using photolithography and dilute acid solution (pH=1.65). These stacks were formed in a same crystal, which were isolated by BiOCl crystal. Lateral dimensions of the oscillator IJJ stacks were more than several hundred μm2, while detector stack was about 10×10 μm2.
In order to confirm emission of electromagnetic waves from the oscillator stack, a zero voltage current for the detector stack was measured while sweeping DC bias of the oscillator stack. In liquid nitrogen, we found that the zero voltage current of the detector stacks was strongly suppressed when the oscillator stacks was biased at hump structure in the I-V curve. However, the hump structure could not been observed at 77 K achieved by cooling gas such as N2 or He. This result indicates that the oscillation characteristics in the large sized Bi-2212 IJJs have a strong influence on cooling method.
キーワード (和) テラヘルツ / ジョセフソン接合 / Bi2Sr2CaCu2Ox(Bi-2212) / / / / /  
(英) Terahartz / Josephson junction / Bi2Sr2CaCu2Ox(Bi-2212) / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 113, no. 268, CPM2013-94, pp. 7-11, 2013年10月.
資料番号 CPM2013-94 
発行日 2013-10-17 (CPM) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード CPM2013-94 エレソ技報アーカイブへのリンク:CPM2013-94

研究会情報
研究会 CPM  
開催期間 2013-10-24 - 2013-10-25 
開催地(和) 新潟大ときめいと 
開催地(英) Niigata Univ. Satellite Campus TOKIMEITO 
テーマ(和) 薄膜プロセス・材料、一般 
テーマ(英) Preparation of Thin Films, Materials for Physics and Applications, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 CPM 
会議コード 2013-10-CPM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 自己発熱がBi-2212固有ジョセフソン接合の発振特性に及ぼす影響 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Influence of self-heating on oscillation phenomena of Bi-2212 intrinsic Josephson junctions 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) テラヘルツ / Terahartz  
キーワード(2)(和/英) ジョセフソン接合 / Josephson junction  
キーワード(3)(和/英) Bi2Sr2CaCu2Ox(Bi-2212) / Bi2Sr2CaCu2Ox(Bi-2212)  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 西方 翼 / Tsubasa Nishikata / ニシカタ ツバサ
第1著者 所属(和/英) 長岡技術科学大学 (略称: 長岡技科大)
Nagaoka University of Technology (略称: Nagaoka Univ. of Tech.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 小瀧 侑央 / Yukio Kotaki / コタキ ユキオ
第2著者 所属(和/英) 長岡技術科学大学 (略称: 長岡技科大)
Nagaoka University of Technology (略称: Nagaoka Univ. of Tech.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 加藤 孝弘 / Takahiro Kato / カトウ タカヒロ
第3著者 所属(和/英) 長岡技術科学大学 (略称: 長岡技科大)
Nagaoka University of Technology (略称: Nagaoka Univ. of Tech.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 石田 弘樹 / Hiroki Ishida / イシダ ヒロキ
第4著者 所属(和/英) 富山高等専門学校 (略称: 富山高専)
Toyama National College of Technology (略称: Toyama National College of Tech.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 末松 久幸 / Hisayuki Suematsu / スエマツ ヒサユキ
第5著者 所属(和/英) 長岡技術科学大学 (略称: 長岡技科大)
Nagaoka University of Technology (略称: Nagaoka Univ. of Tech.)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 玉山 泰宏 / Yasuhiro Tamayama / タマヤマ ヤスヒロ
第6著者 所属(和/英) 長岡技術科学大学 (略称: 長岡技科大)
Nagaoka University of Technology (略称: Nagaoka Univ. of Tech.)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 川上 彰 / Akira Kawakami / カワカミ アキラ
第7著者 所属(和/英) 独立行政法人 情報通信研究機構 (略称: NICT)
National Institute of Information and Communications Technology (略称: NICT)
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) 安井 寛治 / Kanji Yasui / ヤスイ カンジ
第8著者 所属(和/英) 長岡技術科学大学 (略称: 長岡技科大)
Nagaoka University of Technology (略称: Nagaoka Univ. of Tech.)
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講演者
発表日時 2013-10-24 13:55:00 
発表時間 25 
申込先研究会 CPM 
資料番号 IEICE-CPM2013-94 
巻番号(vol) IEICE-113 
号番号(no) no.268 
ページ範囲 pp.7-11 
ページ数 IEICE-5 
発行日 IEICE-CPM-2013-10-17 


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