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講演抄録/キーワード
講演名 2013-10-02 13:35
Bi-2212固有接合から放射される電磁波の接合サイズ依存性
小瀧侑央西方 翼川上 彰加藤孝弘鈴木常生中山忠親安井寛治末松久幸新原晧一長岡技科大SCE2013-20 エレソ技報アーカイブへのリンク:SCE2013-20
抄録 (和) 近年,大面積の固有接合からの高強度テラヘルツ発振が多数報告されているがそのサイズ効果について調べた実験は見当たらない.本研究では,希塩酸処理プロセスによって同一結晶内に発振素子(S=17×145~17×20μm2,N=65~200)および検出素子を備えたデバイスを作製し発振特性の評価を行った.発振素子の電流-電圧特性上にはキンク構造が観測され,また検出素子のゼロ電圧電流はキンク位置で大きく抑制された.キンク構造が観測される電圧値は素子寸法の減少に伴い増加し,本研究で得られた結果が空洞共振に起因することが示唆された. 
(英) We investigated oscillation characteristics of stacked Bi-2212 intrinsic Josephson junctions for various size (S=17×145~17×20μm2,N=65~200)fabricated by dilute acid solution (pH=1.65). At 77 K, zero voltage current for the detector stacks was measured while sweeping a bias voltage of the oscillator stack. The zero voltage current of the detector stack was strong suppressed when kink structure in current-voltage curve of the oscillator stacks were observed. We found that the observed characteristics were explained by the cavity resonance and the cavity mode is dependent on the number of junctions in stack.
キーワード (和) Bi2Sr2CaCu2O8+δ / 固有ジョセフソン接合 / テラヘルツ発振 / / / / /  
(英) Bi2Sr2CaCu2O8+δ / Intrinsic Josephson junction / THz oscillation / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 113, no. 232, SCE2013-20, pp. 7-12, 2013年10月.
資料番号 SCE2013-20 
発行日 2013-09-25 (SCE) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
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技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード SCE2013-20 エレソ技報アーカイブへのリンク:SCE2013-20

研究会情報
研究会 SCE  
開催期間 2013-10-02 - 2013-10-03 
開催地(和) 東北大学・電気通信研究所 
開催地(英) Tohoku University, RIEC 
テーマ(和) 超伝導センシング基盤技術及びその応用、一般 
テーマ(英) Superconducting sensing technologies and their applications, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 SCE 
会議コード 2013-10-SCE 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) Bi-2212固有接合から放射される電磁波の接合サイズ依存性 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Stack size dependence of EM wave emission from Bi-2212 IJJs 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) Bi2Sr2CaCu2O8+δ / Bi2Sr2CaCu2O8+δ  
キーワード(2)(和/英) 固有ジョセフソン接合 / Intrinsic Josephson junction  
キーワード(3)(和/英) テラヘルツ発振 / THz oscillation  
キーワード(4)(和/英) /  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 小瀧 侑央 / Yukio Kotaki / コタキ ユキオ
第1著者 所属(和/英) 長岡技術科学大学 (略称: 長岡技科大)
Nagaoka University of Technology (略称: Nagaoka Univ. of Tech.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 西方 翼 / Tsubasa Nishikata / ニシカタ ツバサ
第2著者 所属(和/英) 長岡技術科学大学 (略称: 長岡技科大)
Nagaoka University of Technology (略称: Nagaoka Univ. of Tech.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 川上 彰 / Akira Kawakami / カワカミ アキラ
第3著者 所属(和/英) 長岡技術科学大学 (略称: 長岡技科大)
Nagaoka University of Technology (略称: Nagaoka Univ. of Tech.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 加藤 孝弘 / Takahiro Kato / カトウ タカヒロ
第4著者 所属(和/英) 長岡技術科学大学 (略称: 長岡技科大)
Nagaoka University of Technology (略称: Nagaoka Univ. of Tech.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 鈴木 常生 / Tsuneo Suzuki / スズキ ツネオ
第5著者 所属(和/英) 長岡技術科学大学 (略称: 長岡技科大)
Nagaoka University of Technology (略称: Nagaoka Univ. of Tech.)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 中山 忠親 / Tadachika Nakayama / ナカヤマ タダチカ
第6著者 所属(和/英) 長岡技術科学大学 (略称: 長岡技科大)
Nagaoka University of Technology (略称: Nagaoka Univ. of Tech.)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 安井 寛治 / Kanji Yasui / ヤスイ カンジ
第7著者 所属(和/英) 長岡技術科学大学 (略称: 長岡技科大)
Nagaoka University of Technology (略称: Nagaoka Univ. of Tech.)
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) 末松 久幸 / Hisayuki Suematsu / スエマツ ヒサユキ
第8著者 所属(和/英) 長岡技術科学大学 (略称: 長岡技科大)
Nagaoka University of Technology (略称: Nagaoka Univ. of Tech.)
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) 新原 晧一 / Koichi Niihara / ニイハラ コウイチ
第9著者 所属(和/英) 長岡技術科学大学 (略称: 長岡技科大)
Nagaoka University of Technology (略称: Nagaoka Univ. of Tech.)
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講演者
発表日時 2013-10-02 13:35:00 
発表時間 25 
申込先研究会 SCE 
資料番号 IEICE-SCE2013-20 
巻番号(vol) IEICE-113 
号番号(no) no.232 
ページ範囲 pp.7-12 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-SCE-2013-09-25 


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