講演抄録/キーワード |
講演名 |
2013-10-02 13:35
Bi-2212固有接合から放射される電磁波の接合サイズ依存性 ○小瀧侑央・西方 翼・川上 彰・加藤孝弘・鈴木常生・中山忠親・安井寛治・末松久幸・新原晧一(長岡技科大) SCE2013-20 エレソ技報アーカイブへのリンク:SCE2013-20 |
抄録 |
(和) |
近年,大面積の固有接合からの高強度テラヘルツ発振が多数報告されているがそのサイズ効果について調べた実験は見当たらない.本研究では,希塩酸処理プロセスによって同一結晶内に発振素子(S=17×145~17×20μm2,N=65~200)および検出素子を備えたデバイスを作製し発振特性の評価を行った.発振素子の電流-電圧特性上にはキンク構造が観測され,また検出素子のゼロ電圧電流はキンク位置で大きく抑制された.キンク構造が観測される電圧値は素子寸法の減少に伴い増加し,本研究で得られた結果が空洞共振に起因することが示唆された. |
(英) |
We investigated oscillation characteristics of stacked Bi-2212 intrinsic Josephson junctions for various size (S=17×145~17×20μm2,N=65~200)fabricated by dilute acid solution (pH=1.65). At 77 K, zero voltage current for the detector stacks was measured while sweeping a bias voltage of the oscillator stack. The zero voltage current of the detector stack was strong suppressed when kink structure in current-voltage curve of the oscillator stacks were observed. We found that the observed characteristics were explained by the cavity resonance and the cavity mode is dependent on the number of junctions in stack. |
キーワード |
(和) |
Bi2Sr2CaCu2O8+δ / 固有ジョセフソン接合 / テラヘルツ発振 / / / / / |
(英) |
Bi2Sr2CaCu2O8+δ / Intrinsic Josephson junction / THz oscillation / / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 113, no. 232, SCE2013-20, pp. 7-12, 2013年10月. |
資料番号 |
SCE2013-20 |
発行日 |
2013-09-25 (SCE) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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