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講演抄録/キーワード
講演名 2013-08-02 09:50
低コスト・マルチVt非対称Halo MOSによるVmin改善とスタンバイリーク低減を実現した45nm 6T-SRAM
新居浩二薮内 誠藤原英弘塚本康正石井雄一郎ルネサス エレクトロニクス)・松村哲哉日大)・松田吉雄金沢大エレソ技報アーカイブへのリンク:SDM2013-76 ICD2013-58
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文献情報 信学技報, vol. 113, no. 173, ICD2013-58, pp. 53-57, 2013年8月.
資料番号 ICD2013-58 
発行日 2013-07-25 (SDM, ICD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
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研究会情報
研究会 SDM ICD  
開催期間 2013-08-01 - 2013-08-02 
開催地(和) 金沢大学 角間キャンパス 
開催地(英) Kanazawa University 
テーマ(和) 低電圧/低消費電力技術、新デバイス・回路とその応用 
テーマ(英) Low voltage/low power techniques, novel devices, circuits, and applications 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ICD 
会議コード 2013-08-SDM-ICD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 低コスト・マルチVt非対称Halo MOSによるVmin改善とスタンバイリーク低減を実現した45nm 6T-SRAM 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A cost-effective 45nm 6T-SRAM reducing 50mV Vmin and 53% standby leakage with multi-Vt asymmetric halo MOS and write assist circuitry 
サブタイトル(英)  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 新居 浩二 / Koji Nii / ニイ コウジ
第1著者 所属(和/英) ルネサスエレクトロニクス株式会社 (略称: ルネサス エレクトロニクス)
Renesas Electronics Corporation (略称: Renesas Electronics)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 薮内 誠 / Makoto Yabuuchi / ヤブウチ マコト
第2著者 所属(和/英) ルネサスエレクトロニクス株式会社 (略称: ルネサス エレクトロニクス)
Renesas Electronics Corporation (略称: Renesas Electronics)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 藤原 英弘 / Hidehiro Fujiwara / フジワラ ヒデヒロ
第3著者 所属(和/英) ルネサスエレクトロニクス株式会社 (略称: ルネサス エレクトロニクス)
Renesas Electronics Corporation (略称: Renesas Electronics)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 塚本 康正 / Yasumasa Tsukamoto / ツカモト ヤスマサ
第4著者 所属(和/英) ルネサスエレクトロニクス株式会社 (略称: ルネサス エレクトロニクス)
Renesas Electronics Corporation (略称: Renesas Electronics)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 石井 雄一郎 / Yuichiro Ishii / イシイ ユウイチロウ
第5著者 所属(和/英) ルネサスエレクトロニクス株式会社 (略称: ルネサス エレクトロニクス)
Renesas Electronics Corporation (略称: Renesas Electronics)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 松村 哲哉 / Tetsuya Matsumura / マツムラ テツヤ
第6著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ.)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 松田 吉雄 / Yoshio Matsuda / マツダ ヨシオ
第7著者 所属(和/英) 金沢大学 (略称: 金沢大)
Kanazawa University (略称: Kanazawa Univ.)
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講演者
発表日時 2013-08-02 09:50:00 
発表時間 25 
申込先研究会 ICD 
資料番号 IEICE-SDM2013-76,IEICE-ICD2013-58 
巻番号(vol) IEICE-113 
号番号(no) no.172(SDM), no.173(ICD) 
ページ範囲 pp.53-57 
ページ数 IEICE-5 
発行日 IEICE-SDM-2013-07-25,IEICE-ICD-2013-07-25 


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