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講演抄録/キーワード
講演名 2013-08-01 09:50
マルチ・ゲート酸化膜を備え自己整合プロセスを用いたDual Work Function (DWF) MOSFETsの低消費RFアプリケーションに対するスケーリングの方針
宮田俊敬川中 繁外園 明大黒達也豊島義明東芝SDM2013-67 ICD2013-49 エレソ技報アーカイブへのリンク:SDM2013-67 ICD2013-49
抄録 (和) 汎用CMOSプロセスを用いて、ゲート長が100nmの自己整合的なDual Work Function (DWF)-MOSFET を今回初めて試作した。この結果から、トランスコンダクタンス(GM)及びドレインコンダクタンス(GD)の向上だけでなく、複数のゲート絶縁膜を有したDWF-MOSFET構造により動作電圧のマージンを広げることが可能となる。またTCAD解析により、RFアプリケーションに対する低消費電力化の潜在能力を示し、DWF-MOSFET動作による従来のスケーリングとは異なるアプローチを明示する。 
(英) Dual Work Function (DWF)-MOSFET of 100 nm gate length device with self-aligned integration scheme was demonstrated utilizing conventional CMOS platform process for the first time. Here, we obtained not only the improved transconductance (GM) and drain conductance (GD), but also the enlarged operation voltage window employing multi gate oxide structure combined with DWF-MOSFET gate stack. Also, the discriminative features of DWF-MOSFET operation were revealed by TCAD analysis indicating the potential ability of reduced power consumption for RF applications.
キーワード (和) RFトランジスタ / Dual Work Function FET / DWF-FET / Multi Gate Oxide Dual Work Function / MGO-DWF-FET / / /  
(英) RF transistor / Dual Work Function FET / DWF-FET / Multi Gate Oxide Dual Work Function / MGO-DWF-FET / / /  
文献情報 信学技報, vol. 113, no. 172, SDM2013-67, pp. 13-18, 2013年8月.
資料番号 SDM2013-67 
発行日 2013-07-25 (SDM, ICD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード SDM2013-67 ICD2013-49 エレソ技報アーカイブへのリンク:SDM2013-67 ICD2013-49

研究会情報
研究会 SDM ICD  
開催期間 2013-08-01 - 2013-08-02 
開催地(和) 金沢大学 角間キャンパス 
開催地(英) Kanazawa University 
テーマ(和) 低電圧/低消費電力技術、新デバイス・回路とその応用 
テーマ(英) Low voltage/low power techniques, novel devices, circuits, and applications 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 SDM 
会議コード 2013-08-SDM-ICD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) マルチ・ゲート酸化膜を備え自己整合プロセスを用いたDual Work Function (DWF) MOSFETsの低消費RFアプリケーションに対するスケーリングの方針 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Scaling Strategy for Low Power RF Applications with Multi Gate Oxide Dual Work function (DWF) MOSFETs Utilizing Self-Aligned Integration Scheme 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) RFトランジスタ / RF transistor  
キーワード(2)(和/英) Dual Work Function FET / Dual Work Function FET  
キーワード(3)(和/英) DWF-FET / DWF-FET  
キーワード(4)(和/英) Multi Gate Oxide Dual Work Function / Multi Gate Oxide Dual Work Function  
キーワード(5)(和/英) MGO-DWF-FET / MGO-DWF-FET  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 宮田 俊敬 / Toshitaka Miyata / ミヤタ トシタカ
第1著者 所属(和/英) 東芝 (略称: 東芝)
TOSHIBA (略称: TOSHIBA)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 川中 繁 / Shigeru Kawanaka / カワナカ シゲル
第2著者 所属(和/英) 東芝 (略称: 東芝)
TOSHIBA (略称: TOSHIBA)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 外園 明 / Akira Hokazono / ホカゾノ アキラ
第3著者 所属(和/英) 東芝 (略称: 東芝)
TOSHIBA (略称: TOSHIBA)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 大黒 達也 / Tatsuya Ohguro / オオグロ タツヤ
第4著者 所属(和/英) 東芝 (略称: 東芝)
TOSHIBA (略称: TOSHIBA)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 豊島 義明 / Yoshiaki Toyoshima / トヨシマ ヨシアキ
第5著者 所属(和/英) 東芝 (略称: 東芝)
TOSHIBA (略称: TOSHIBA)
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講演者 第1著者 
発表日時 2013-08-01 09:50:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 SDM 
資料番号 SDM2013-67, ICD2013-49 
巻番号(vol) vol.113 
号番号(no) no.172(SDM), no.173(ICD) 
ページ範囲 pp.13-18 
ページ数
発行日 2013-07-25 (SDM, ICD) 


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