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講演抄録/キーワード
講演名 2013-07-12 10:35
ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~ ハンマリング加振機構の特性に関する基礎的検討(28) ~
和田真一越田圭治サインダー ノロブリン久保田洋彰TMCシステム)・澤 孝一郎日本工大エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2013-24
抄録 (和) 著者らは,ハンマリング加振機構によって,電気接点に実際の環境と類似した振動を加えることのできる機構を設計・開発し,さらにこれを用いた微小振動の影響に関する解析を行ってきた.この過程で基本的力学パラメータ評価が必要となり,加振過渡状態における簡便でかつ実際的な新しい評価方法を提案する.基板上の電子デバイスのように比較的軽量な対象物を解析するのに必要な基本力学パラメータを有効質量,有効加振力,そして有効加速度とし,これらを加速度測定値のみから推算する実際的な方法論を提案する.
ハンマリング加振機構を用いて,有効質量,有効加振力,および有効加速度の基板上の分布を計算および推算する.またこれらの力学パラメータに加えて付加質量パラメータを導入し,おもり落下システムにより付加質量の影響および上記力学パラメータの妥当性を検討する.
さらに,準定常状態における,上記評価方法 (1) を補完する,固有角振動数および減衰比を用いた,新しい評価方法 (2) を提案する. 
(英) Authors have studied the effect on electrical contacts by actual micro-oscillation using the hammering oscillation mechanism (HOM) which they have designed and developed. In addition, they have proposed a simple and practical protocol 1 in the transient condition to evaluate the fundamental dynamical parameter such as effective mass, effective force and effective acceleration of the electrical devices on the PCB (printed circuit board), which are comparatively lightweight, only using experimental acceleration values.
In this paper, they estimate or calculate the distributions of the above dynamical parameters on the PCB and introduce an additional mass parameter in addition to the above dynamical parameters. They consider the influence of an additional mass which is indispensable for the protocol and the validation of the dynamical parameters.
And they also propose a new protocol 2 in sub-steady-state condition to evaluate natural frequency and damping ratio, which complements the protocol 1.
キーワード (和) 電気接点 / 微小振動 / 接触抵抗 / 有効質量 / 有効加振力 / 有効加速度 / 付加質量 / ハンマリング加振機構  
(英) electrical contact / micro-oscillation / contact resistance / effective mass / effective force / effective acceleration / additional mass / hammering oscillation mechanism  
文献情報 信学技報, vol. 113, no. 126, EMD2013-24, pp. 1-6, 2013年7月.
資料番号 EMD2013-24 
発行日 2013-07-05 (EMCJ, EMD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)

研究会情報
研究会 EMCJ EMD  
開催期間 2013-07-12 - 2013-07-12 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) 放電, 実装, EMC, 一般 
テーマ(英) Discharge, EMC, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMD 
会議コード 2013-07-EMCJ-EMD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 
サブタイトル(和) ハンマリング加振機構の特性に関する基礎的検討(28) 
タイトル(英) Degradation Phenomenon of Electrical Contacts using a Hammering Oscillation Mechanism or a Micro-Sliding Mechanism 
サブタイトル(英) A fundamental study on the performance of the hammering oscillation mechanism (28) 
キーワード(1)(和/英) 電気接点 / electrical contact  
キーワード(2)(和/英) 微小振動 / micro-oscillation  
キーワード(3)(和/英) 接触抵抗 / contact resistance  
キーワード(4)(和/英) 有効質量 / effective mass  
キーワード(5)(和/英) 有効加振力 / effective force  
キーワード(6)(和/英) 有効加速度 / effective acceleration  
キーワード(7)(和/英) 付加質量 / additional mass  
キーワード(8)(和/英) ハンマリング加振機構 / hammering oscillation mechanism  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 和田 真一 / Shin-ichi Wada / ワダ シンイチ
第1著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 越田 圭治 / Keiji Koshida / コシダ ケイジ
第2著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) サインダー ノロブリン / Saindaa Norovling / サインダー ノロブリン
第3著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 久保田 洋彰 / Hiroaki Kubota / クボタ ヒロアキ
第4著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 澤 孝一郎 / Koichiro Sawa / サワ コウイチロウ
第5著者 所属(和/英) 日本工業大学 (略称: 日本工大)
Nippon Institute of Technology (略称: NIT)
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講演者
発表日時 2013-07-12 10:35:00 
発表時間 25 
申込先研究会 EMD 
資料番号 IEICE-EMCJ2013-39,IEICE-EMD2013-24 
巻番号(vol) IEICE-113 
号番号(no) no.125(EMCJ), no.126(EMD) 
ページ範囲 pp.1-6 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-EMCJ-2013-07-05,IEICE-EMD-2013-07-05 


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