講演抄録/キーワード |
講演名 |
2013-06-21 15:30
インタラクションテストにおける故障ペアを特定可能なテストケース集合生成方法の提案 ○永元雄宙・小島英春・土屋達弘(阪大) DC2013-13 |
抄録 |
(和) |
本研究では,ソフトウェアのインタラクションテストにおいて, テストの実行結果からその原因である故
障インタラクションを特定するテストケース生成手法について議論する.提案手法では,予め故障インタラクション
を特定可能になるようにテストケース集合を生成する.この生成されたテストケース集合をすべて実行した結果より
故障インタラクションを特定することができる.提案手法の動作は以下の通りである.まず,原因特定を目的としな
いテスト手法であるペアワイズテスト手法用のテストケース集合を作成する.次に,このテスト集合の実行結果から
原因として特定できないインタラクションを数え上げる.これらのインタラクションは,互いに区別できないという
同値関係をもつ.そこで,同値類を分割する,もしくは,解消するようにテストケースを逐次的に追加していく.いく
つかの問題例に提案法を適用した結果,故障特定を目的としないペアワイズテストと比べ,2, 3 倍程度のテストケー
ス数で故障インタラクションの特定が可能であることが分かった. |
(英) |
This paper discusses the location of interaction faults in software interaction testing. Specically, we
propose a method of generating a test set that can locate any single pair-wise interaction fault, aimed at reduction of
software development cost. In mathematical terms, such a test set is called a locating array. The proposed method
works as follows. First, a test set is generated using an existing method for pair-wise testing. Second, pair-wise
interactions that cannot be located by the test set are enumerated. Finally, addition of a test case to the test set
is repeated until all pair-wise interactions can be located. We apply the proposed method to some examples to
compare it with a conventional pair-wise testing method with respect to the number of test cases in resulting test
sets. The results of the case study show that the proposed method can enable fault localization at the cost of 2-3
times test set size. |
キーワード |
(和) |
ペアワイズ法 / 故障インタラクション / locating array / / / / / |
(英) |
pair-wise testing / interaction faults / locating array / / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 113, no. 104, DC2013-13, pp. 19-23, 2013年6月. |
資料番号 |
DC2013-13 |
発行日 |
2013-06-14 (DC) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
PDFダウンロード |
DC2013-13 |
研究会情報 |
研究会 |
DC |
開催期間 |
2013-06-21 - 2013-06-21 |
開催地(和) |
機械振興会館 |
開催地(英) |
Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
テーマ(和) |
設計/テスト/検証 |
テーマ(英) |
Design, Test, Verification |
講演論文情報の詳細 |
申込み研究会 |
DC |
会議コード |
2013-06-DC |
本文の言語 |
日本語 |
タイトル(和) |
インタラクションテストにおける故障ペアを特定可能なテストケース集合生成方法の提案 |
サブタイトル(和) |
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タイトル(英) |
An Approach of Generating a Test Set to Locate a Pair-Wise Interaction Fault |
サブタイトル(英) |
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キーワード(1)(和/英) |
ペアワイズ法 / pair-wise testing |
キーワード(2)(和/英) |
故障インタラクション / interaction faults |
キーワード(3)(和/英) |
locating array / locating array |
キーワード(4)(和/英) |
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キーワード(5)(和/英) |
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キーワード(6)(和/英) |
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キーワード(7)(和/英) |
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キーワード(8)(和/英) |
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
永元 雄宙 / Takahiro Nagamoto / ナガモト タカヒロ |
第1著者 所属(和/英) |
大阪大学 (略称: 阪大)
Osaka University (略称: Osaka Univ.) |
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
小島 英春 / Hideharu Kojima / コジマ ヒデハル |
第2著者 所属(和/英) |
大阪大学 (略称: 阪大)
Osaka University (略称: Osaka Univ.) |
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
土屋 達弘 / Tatsuhiro Tsuchiya / ツチヤ タツヒロ |
第3著者 所属(和/英) |
大阪大学 (略称: 阪大)
Osaka University (略称: Osaka Univ.) |
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第10著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第11著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第12著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第13著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第14著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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講演者 |
第1著者 |
発表日時 |
2013-06-21 15:30:00 |
発表時間 |
30分 |
申込先研究会 |
DC |
資料番号 |
DC2013-13 |
巻番号(vol) |
vol.113 |
号番号(no) |
no.104 |
ページ範囲 |
pp.19-23 |
ページ数 |
5 |
発行日 |
2013-06-14 (DC) |