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講演抄録/キーワード
講演名 2013-06-21 14:15
制約付きテスト生成を用いたスキャンBISTのLFSRシード生成法
森保孝憲大竹哲史大分大
抄録 (和) 本稿では,LFSRを用いたスキャンBISTのリシード向けの新しいLFSRシード生成法を提案する.従来のシード生成法は,テスト対象故障に対してまずスキャンテストパターンを求め,それをLFSRのシードに変換するという方法であった.しかし,この方法ではスキャンテストパターンがシードに変換できる保証はなく,対象故障を検出できない場合があるといった問題があった.提案手法では,LFSRの構造を時間的に展開することでスキャンテストパターンをシードの関数として表現できることに着目し,これをテスト生成の際に制約として用いることで直接シードを求める.具体的には,その関数を表現する組合せ回路を設計し,それをシード生成対象回路に疑似的に接続し,対象故障に対してテスト生成することで直接シードを生成する.本稿ではさらに,ITC'99ベンチマーク回路を用いた実験により,提案手法の有効性を示す. 
(英) This paper proposes a method of LFSR seed generation for LFSR reseeding of scan-based BIST of VLSI circuits. So far, a scan test pattern detecting some fault is first generated using an ATPG tool and the generated pattern is then converted into a seed. However, the conversion does not always succeed and the fault may not be detected. For a given circuit with scan-based BIST, the proposed method first creates a seed generation model for the circuit. The seed generation model consists of the combinational part of the circuit and the XOR network representing the logic functions of LFSR seed variables for scan flip-flops. LFSR seeds for faults are then generated as test patterns of the seed generation model by using an ATPG tool. In this paper, the effectiveness of the proposed method is shown by experiments using ITC'99 benchmark circuits.
キーワード (和) スキャンBIST / LFSR / リシード / シード生成 / テスト生成制約 / / /  
(英) Scan-based BIST / LFSR / reseeding / seed generation / test generation constraint / / /  
文献情報 信学技報, vol. 113, no. 104, DC2013-11, pp. 7-12, 2013年6月.
資料番号 DC2013-11 
発行日 2013-06-14 (DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 DC  
開催期間 2013-06-21 - 2013-06-21 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) 設計/テスト/検証 
テーマ(英) Design, Test, Verification 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2013-06-DC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 制約付きテスト生成を用いたスキャンBISTのLFSRシード生成法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A method of deterministic LFSR seed generation for scan-based BIST 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) スキャンBIST / Scan-based BIST  
キーワード(2)(和/英) LFSR / LFSR  
キーワード(3)(和/英) リシード / reseeding  
キーワード(4)(和/英) シード生成 / seed generation  
キーワード(5)(和/英) テスト生成制約 / test generation constraint  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 森保 孝憲 / Takanori Moriyasu / モリヤス タカノリ
第1著者 所属(和/英) 大分大学 (略称: 大分大)
Oita University (略称: Oita Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 大竹 哲史 / Satoshi Ohtake / オオタケ サトシ
第2著者 所属(和/英) 大分大学 (略称: 大分大)
Oita University (略称: Oita Univ.)
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講演者
発表日時 2013-06-21 14:15:00 
発表時間 30 
申込先研究会 DC 
資料番号 IEICE-DC2013-11 
巻番号(vol) IEICE-113 
号番号(no) no.104 
ページ範囲 pp.7-12 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-DC-2013-06-14 


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