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講演抄録/キーワード
講演名 2013-06-21 14:40
ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~ ハンマリング加振機構の特性に関する基礎的検討(27) ~
和田真一越田圭治益田直樹柳 国男久保田洋彰TMCシステム)・澤 孝一郎日本工大エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2013-17 CPM2013-32 OME2013-40
抄録 (和) 著者らは,いくつかの加振機構(ハンマリング加振機構,微摺動機構,タッピング・デバイスなど)により,実際の微小振動による電気接点の影響を検討してきた.著者らは,鉛直方向のハンマリング加振によって,電気接点に実際の環境と類似した振動を加えることのできる機構を設計・開発し,さらにこれを用いた微小振動の影響に関する解析を行ってきた.また,ハンマリング加振機構を用いて,基板上の電子デバイスのような比較的軽量な対象物を解析するのに必要な“有効質量”,“有効加振力”,“有効加速度”のような基本的力学パラメータを評価する,簡便でかつ実際的な評価方法を提案してきた.
本論文では,これらのパラメータに加え“付加質量パラメータ”を導入し,本方法論では不可欠である付加質量の影響および上記評価方法における力学パラメータの妥当性を検討する.そして,ハンマリング加振機構(HOM)により,上記評価方法における“有効加速度”のデータと静電容量変位計による変位から計算したデータについて比較検討する. 
(英) Authors have studied the influence on electrical contacts by actual micro-oscillation using some oscillating mechanisms (Hammering Oscillating Mechanism, Micro-Sliding Mechanism, Tapping Device etc.). In addition, they have proposed a simple and practical protocol to estimate the fundamental dynamical parameter such as an “effective mass”, an “effective force” and an “effective acceleration” of the electrical devices on the PCB (printed circuit board), which are comparatively lightweight, using hammering oscillating mechanism.
In this paper, they introduce an “additional mass parameter” in addition to the above dynamical parameters. They consider the influence of an additional mass which is indispensable for the protocol and the validation of the dynamical parameters. And they compare the data of an “effective acceleration” of the protocol with the data calculated by a capacitance displacement sensor by using Hammering Oscillating Mechanism (HOM)
キーワード (和) 電気接点 / 微小振動 / 接触抵抗 / ハンマリング加振機構 / 有効質量 / 有効加振力 / 有効加速度 /  
(英) electrical contact / micro-oscillation / contact resistance / hammering oscillating mechanism / effective mass / effective force / effective acceleration /  
文献情報 信学技報, vol. 113, no. 96, EMD2013-17, pp. 55-60, 2013年6月.
資料番号 EMD2013-17 
発行日 2013-06-14 (EMD, CPM, OME) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)

研究会情報
研究会 EMD CPM OME  
開催期間 2013-06-21 - 2013-06-21 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) 材料デバイスサマーミーティング 
テーマ(英) Summer meeting for materials and devices 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMD 
会議コード 2013-06-EMD-CPM-OME 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 
サブタイトル(和) ハンマリング加振機構の特性に関する基礎的検討(27) 
タイトル(英) Degradation Phenomenon of Electrical Contacts by using a Hammering Oscillating Mechanism or a Micro-Sliding Mechanism 
サブタイトル(英) A fundamental study on the performance of the hammering oscillating mechanism (27) 
キーワード(1)(和/英) 電気接点 / electrical contact  
キーワード(2)(和/英) 微小振動 / micro-oscillation  
キーワード(3)(和/英) 接触抵抗 / contact resistance  
キーワード(4)(和/英) ハンマリング加振機構 / hammering oscillating mechanism  
キーワード(5)(和/英) 有効質量 / effective mass  
キーワード(6)(和/英) 有効加振力 / effective force  
キーワード(7)(和/英) 有効加速度 / effective acceleration  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 和田 真一 / Shin-ichi Wada / ワダ シンイチ
第1著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 越田 圭治 / Keiji Koshida / コシダ ケイジ
第2著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 益田 直樹 / Naoki Masuda / マスダ ナオキ
第3著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 柳 国男 / Kunio Yanagi / ヤナギ クニオ
第4著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 久保田 洋彰 / Hiroaki Kubota / クボタ ヒロアキ
第5著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 澤 孝一郎 / Koichiro Sawa / サワ コウイチロウ
第6著者 所属(和/英) 日本工業大学 (略称: 日本工大)
Nippon Institute of Thechnology (略称: NIT)
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講演者
発表日時 2013-06-21 14:40:00 
発表時間 20 
申込先研究会 EMD 
資料番号 IEICE-EMD2013-17,IEICE-CPM2013-32,IEICE-OME2013-40 
巻番号(vol) IEICE-113 
号番号(no) no.96(EMD), no.97(CPM), no.98(OME) 
ページ範囲 pp.55-60 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-EMD-2013-06-14,IEICE-CPM-2013-06-14,IEICE-OME-2013-06-14 


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