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講演抄録/キーワード
講演名 2013-05-16 15:20
γ-Al2O3/Si基板上のPZT薄膜を用いた超音波トランスデューサの受信感度測定と音圧マッピング
西村将人尾崎勝弥赤井大輔石田 誠豊橋技科大)・岡田長也本多電子)   エレソ技報アーカイブはこちら
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文献情報 信学技報
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研究会情報
研究会 SDM ED CPM  
開催期間 2013-05-16 - 2013-05-17 
開催地(和) 静大(浜松)創造科学技術大学院 
開催地(英) Shizuoka Univ. (Hamamatsu) Graduate School of Sci. and Technol. 
テーマ(和) 結晶成長、評価及びデバイス(化合物、Si、SiGe、電子・光材料) 
テーマ(英) Crystal Growth, Characterization, Device, etc (compound semiconductors, Si, SiGe, optical and electronic materials) 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ED 
会議コード 2013-05-SDM-ED-CPM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) γ-Al2O3/Si基板上のPZT薄膜を用いた超音波トランスデューサの受信感度測定と音圧マッピング 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Sensitivity measurement and pressure mapping of ultrasonic transducer using PZT thin films on epitaxial γ-Al2O3/Si substrate 
サブタイトル(英)  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 西村 将人 / Masato Nishimura / ニシムラ マサト
第1著者 所属(和/英) 豊橋技術科学大学 (略称: 豊橋技科大)
Toyohashi University of Technology (略称: Toyohashi Univ)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 尾崎 勝弥 / Katsuya Ozaki / オザキ カツヤ
第2著者 所属(和/英) 豊橋技術科学大学 (略称: 豊橋技科大)
Toyohashi University of Technology (略称: Toyohashi Univ)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 赤井 大輔 / Daisuke Akai / アカイ ダイスケ
第3著者 所属(和/英) 豊橋技術科学大学 (略称: 豊橋技科大)
Toyohashi University of Technology (略称: Toyohashi Univ)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 石田 誠 / Makoto Ishida / イシダ マコト
第4著者 所属(和/英) 豊橋技術科学大学 (略称: 豊橋技科大)
Toyohashi University of Technology (略称: Toyohashi Univ)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 岡田 長也 / Nagaya Okada / オカダ ナガヤ
第5著者 所属(和/英) 本多電子株式会社 (略称: 本多電子)
Honda Electronics Co.,Ltd. (略称: Honda Electronics)
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講演者 第1著者 
発表日時 2013-05-16 15:20:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 ED 
資料番号  
巻番号(vol) vol.113 
号番号(no) no.39(ED), no.40(CPM), no.41(SDM) 
ページ範囲  
ページ数  
発行日  


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