お知らせ 2023年度・2024年度 学生員 会費割引キャンペーン実施中です
お知らせ 技術研究報告と和文論文誌Cの同時投稿施策(掲載料1割引き)について
お知らせ 電子情報通信学会における研究会開催について
お知らせ NEW 参加費の返金について
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
講演論文 詳細
技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
 トップに戻る 前のページに戻る   [Japanese] / [English] 

講演抄録/キーワード
講演名 2013-05-10 11:15
Influence of Organizational Change on Product Metrics and Defects
Seiji SatoHironori WashizakiYoshiaki FukazawaWaseda Univ.)・Sakae InoueHiroyuki OnoYoshiiku HanaiMikihiko YamamotoFujitsuSS2013-11
抄録 (和) In software development, the development organization sometimes changes, but its influence on software quality has not yet been elucidated. In this paper, we introduce textit{origins} --- the creation and modification history of files --- to study the effects of organizational change on software quality. Using origins, we analyze two open source projects developed by a total of three organizations. We conduct statistical analysis to investigate the relationship between origins, product metrics, and defects. As a result, we find that files modified by multiple organizations or by later organizations tend to be complex and faulty, and that complex files tend to be faulty regardless of origin. Additionally, we construct a fault prediction model that uses both origins and product metrics as the predictors, and improve the model that uses only product metrics. 
(英) In software development, the development organization sometimes changes, but its influence on software quality has not yet been elucidated. In this paper, we introduce textit{origins} --- the creation and modification history of files --- to study the effects of organizational change on software quality. Using origins, we analyze two open source projects developed by a total of three organizations. We conduct statistical analysis to investigate the relationship between origins, product metrics, and defects. As a result, we find that files modified by multiple organizations or by later organizations tend to be complex and faulty, and that complex files tend to be faulty regardless of origin. Additionally, we construct a fault prediction model that uses both origins and product metrics as the predictors, and improve the model that uses only product metrics.
キーワード (和) / / / / / / /  
(英) Organizational change / Product metrics / Defects / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 113, no. 24, SS2013-11, pp. 61-66, 2013年5月.
資料番号 SS2013-11 
発行日 2013-05-02 (SS) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード SS2013-11

研究会情報
研究会 SS  
開催期間 2013-05-09 - 2013-05-10 
開催地(和) 香川大学(幸町) 
開催地(英) Kagawa University (Saiwaimachi) 
テーマ(和) 一般 
テーマ(英) Software Science, Software Engineering, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 SS 
会議コード 2013-05-SS 
本文の言語 英語 
タイトル(和)  
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Influence of Organizational Change on Product Metrics and Defects 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) / Organizational change  
キーワード(2)(和/英) / Product metrics  
キーワード(3)(和/英) / Defects  
キーワード(4)(和/英) /  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 佐藤 靖治 / Seiji Sato / サトウ セイジ
第1著者 所属(和/英) 早稲田大学 (略称: 早大)
Waseda University (略称: Waseda Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 鷲崎 弘宜 / Hironori Washizaki / ワシザキ ヒロノリ
第2著者 所属(和/英) 早稲田大学 (略称: 早大)
Waseda University (略称: Waseda Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 深澤 良彰 / Yoshiaki Fukazawa / フカザワ ヨシアキ
第3著者 所属(和/英) 早稲田大学 (略称: 早大)
Waseda University (略称: Waseda Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 井上 栄 / Sakae Inoue / イノウエ サカエ
第4著者 所属(和/英) 富士通株式会社 (略称: 富士通)
Fujitsu Limited (略称: Fujitsu)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 小野 博之 / Hiroyuki Ono / オノ ヒロユキ
第5著者 所属(和/英) 富士通株式会社 (略称: 富士通)
Fujitsu Limited (略称: Fujitsu)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 華井 克育 / Yoshiiku Hanai / ハナイ ヨシイク
第6著者 所属(和/英) 富士通株式会社 (略称: 富士通)
Fujitsu Limited (略称: Fujitsu)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 山本 樹彦 / Mikihiko Yamamoto / ヤマモト ミキヒコ
第7著者 所属(和/英) 富士通株式会社 (略称: 富士通)
Fujitsu Limited (略称: Fujitsu)
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第8著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第9著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第10著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第11著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第12著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第13著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第14著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第15著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第16著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第17著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第18著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第19著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第20著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
講演者 第1著者 
発表日時 2013-05-10 11:15:00 
発表時間 30分 
申込先研究会 SS 
資料番号 SS2013-11 
巻番号(vol) vol.113 
号番号(no) no.24 
ページ範囲 pp.61-66 
ページ数
発行日 2013-05-02 (SS) 


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会