研究会情報 |
研究会 |
EST |
開催期間 |
2013-05-10 - 2013-05-10 |
開催地(和) |
NTT厚木研究開発センター |
開催地(英) |
NTT Science and Core Technology Laboratory Group |
テーマ(和) |
テラヘルツ応用,シミュレーション技術,一般 |
テーマ(英) |
THz applications, Simulation technology, etc. |
講演論文情報の詳細 |
申込み研究会 |
EST |
会議コード |
2013-05-EST |
本文の言語 |
日本語 |
タイトル(和) |
FDTD法を用いたテラヘルツデバイス解析における金属の取り扱い |
サブタイトル(和) |
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タイトル(英) |
Treatment of Metal in the Analysis of Terahertz Devices Using the FDTD Method |
サブタイトル(英) |
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キーワード(1)(和/英) |
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キーワード(2)(和/英) |
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キーワード(3)(和/英) |
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キーワード(4)(和/英) |
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キーワード(6)(和/英) |
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キーワード(7)(和/英) |
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キーワード(8)(和/英) |
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
柴山 純 / Jun Shibayama / シバヤマ ジュン |
第1著者 所属(和/英) |
法政大学 (略称: 法政大)
Hosei University (略称: Hosei Univ.) |
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
尾崎 慎吾 / Shingo Ozaki / オザキ シンゴ |
第2著者 所属(和/英) |
法政大学 (略称: 法政大)
Hosei University (略称: Hosei Univ.) |
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
内薗 洋祐 / Yosuke Uchizono / ウチゾノ ヨウスケ |
第3著者 所属(和/英) |
法政大学 (略称: 法政大)
Hosei University (略称: Hosei Univ.) |
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
山内 潤治 / Junji Yamauchi / ヤマウチ ジュンジ |
第4著者 所属(和/英) |
法政大学 (略称: 法政大)
Hosei University (略称: Hosei Univ.) |
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) |
中野 久松 / Hisamatsu Nakano / ナカノ ヒサマツ |
第5著者 所属(和/英) |
法政大学 (略称: 法政大)
Hosei University (略称: Hosei Univ.) |
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第6著者 所属(和/英) |
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第7著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第8著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第9著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第10著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第11著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第12著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第13著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第14著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第15著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第16著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第17著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第18著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第19著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第20著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第20著者 所属(和/英) |
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講演者 |
第2著者 |
発表日時 |
2013-05-10 16:40:00 |
発表時間 |
25分 |
申込先研究会 |
EST |
資料番号 |
EST2013-11 |
巻番号(vol) |
vol.113 |
号番号(no) |
no.26 |
ページ範囲 |
pp.57-62 |
ページ数 |
6 |
発行日 |
2013-05-03 (EST) |