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講演抄録/キーワード
講演名 2013-03-06 14:45
故障確率を考慮した階層型フォールト解析とその実装評価
後藤 輝吉川雅弥名城大VLD2012-160
抄録 (和) 機密情報を扱う電子デバイスでは,AESなどの標準暗号アルゴリズムによってデータを暗号化する事で安全性を確保している.しかし近年,暗号化処理中に故意に故障を起こし,内部の機密情報を解析するフォールト解析が問題となっている.フォールト解析については,いくつかの方法が提案されている.そこで本研究では,2つのフォールト解析手法を相補的に組み合わせた高精度の階層型フォールト解析手法を新たに提案する.また,故障発生確率を考慮した階層型フォールト解析シミュレータを開発する.さらに評価実験により,提案解析手法と開発シミュレータの有効性を実証する. 
(英) Although encryption standards are theoretically safe, it has been recently reported that confidential information could be illegally specified when the encryption standards are used in integrated circuits. In particular, the menace posed by fault analysis attacks has become extremely serious. Fault analysis is an attack method, in which errors are intentionally raised and the outputs of the errors are analyzed to estimate the internal status of a cryptographic circuit. Several studies regarding the fault analysis have been proposed. Since types of information used for analysis differ from each other in previous studies, bytes of a secret key to be derived differ from each other. This study proposes a new fault analysis method which introduces complementary analysis algorithms. Simulation results verify the validity of the proposed method.
キーワード (和) サイドチャネル攻撃 / AES / フォールト解析 / / / / /  
(英) Side-channel Attack / AES / Fault Analysis / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 112, no. 451, VLD2012-160, pp. 135-140, 2013年3月.
資料番号 VLD2012-160 
発行日 2013-02-25 (VLD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード VLD2012-160

研究会情報
研究会 VLD  
開催期間 2013-03-04 - 2013-03-06 
開催地(和) 沖縄県青年会館 
開催地(英) Okinawa Seinen Kaikan 
テーマ(和) システムオンシリコンを支える設計技術 
テーマ(英) Design Technology for System-on-Silicon 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 VLD 
会議コード 2013-03-VLD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 故障確率を考慮した階層型フォールト解析とその実装評価 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Probability Driven Hierarchical Fault Analysis System and its Implementation 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) サイドチャネル攻撃 / Side-channel Attack  
キーワード(2)(和/英) AES / AES  
キーワード(3)(和/英) フォールト解析 / Fault Analysis  
キーワード(4)(和/英) /  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 後藤 輝 / Hikaru Goto / ゴトウ ヒカル
第1著者 所属(和/英) 名城大学 (略称: 名城大)
Meijo University (略称: Meijo Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 吉川 雅弥 / Masaya Yoshikawa /
第2著者 所属(和/英) 名城大学 (略称: 名城大)
Meijo University (略称: Meijo Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2013-03-06 14:45:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 VLD 
資料番号 VLD2012-160 
巻番号(vol) vol.112 
号番号(no) no.451 
ページ範囲 pp.135-140 
ページ数
発行日 2013-02-25 (VLD) 


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