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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2013-02-13 16:15 モニタ回路による製造バラツキを考慮した温度・電圧推定手法 ○三宅庸資・津森 渉・佐藤康夫・梶原誠司（九工大）・三浦幸也（首都大東京）  DC2012-89 |
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| 抄録 | （和） | VLSIの微細化に伴い，劣化による回路遅延の増加が問題となっている．劣化による遅延の増加を検出するにはフィールドテストで高精度な遅延測定を行うことが有効であるが，その際には，温度や電圧の遅延への影響を考慮する必要がある．チップ内の温度と電圧は，リングオシレータで構成される温度・電圧モニタ回路を用いて推定する方法が提案されている．モニタ回路における製造プロセスのバラツキはリングオシレータの周波数に大きな影響を及ぼすため，高精度な温度・電圧推定を行うには製造バラツキの影響を考慮する必要がある． 本論文では，製造バラツキが温度・電圧推定に与える影響を低減するため，モニタ回路における製造バラツキの影響を考慮した温度・電圧推定手法について述べる． |
| （英） | Delay increase due to aging phenomena is a critical issue of VLSIs. For detecting such increase in field, a highly accurate delay measurement technology that considers the influence by temperature and voltage is strongly needed. A method has been proposed that estimates chip temperature and voltage using a ring-oscillator-based monitoring circuit. However, frequencies of the ring-oscillators are greatly influenced by process variation. Thus, we need to take into account the process variation for the accurate estimation of temperature and voltage. This paper discusses estimation of temperature and voltage considering process variation for the monitoring circuit. |
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| キーワード | （和） | 遅延測定 / 劣化検知 / フィールドテスト / 温度・電圧モニタ / リングオシレータ / / / |
| （英） | Delay measurement / Aging / Field test / Temperature and Voltage monitor / Ring Oscillator / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 112, no. 429, DC2012-89, pp. 55-60, 2013年2月. | |
| 資料番号 | DC2012-89 | |
| 発行日 | 2013-02-06 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2012-89 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2013-02-13 - 2013-02-13 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | VLSI Design and Test, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2013-02-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | モニタ回路による製造バラツキを考慮した温度・電圧推定手法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Temperature and voltage estimation considering manufacturing variability for a monitoring circuit |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 遅延測定 / Delay measurement |
| キーワード(2)（和/英） | 劣化検知 / Aging |
| キーワード(3)（和/英） | フィールドテスト / Field test |
| キーワード(4)（和/英） | 温度・電圧モニタ / Temperature and Voltage monitor |
| キーワード(5)（和/英） | リングオシレータ / Ring Oscillator |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 三宅 庸資 / Yousuke Miyake / ミヤケ ヨウスケ |
| 第1著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyushu Inst. of Tech.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 津森 渉 / Wataru Tsumori / ツモリ ワタル |
| 第2著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyushu Inst. of Tech.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 佐藤 康夫 / Yasuo Sato / サトウ ヤスオ |
| 第3著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyushu Inst. of Tech.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 梶原 誠司 / Seiji Kajihara / カジハラ セイジ |
| 第4著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyushu Inst. of Tech.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 三浦 幸也 / Yukiya Miura / ミウラ ユキヤ |
| 第5著者 所属（和/英） | 首都大学東京 (略称： 首都大東京) Tokyo Metropolitan University (略称： Tokyo Metropolitan Univ.) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2013-02-13 16:15:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2012-89 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | no.429 |
| ページ範囲 | pp.55-60 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2013-02-06 (DC) |
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