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講演抄録/キーワード
講演名 2013-02-13 13:30
半断線故障検出のための信号遅延の特性評価
大栗裕人四柳浩之橋爪正樹徳島大)・堤 利幸山崎浩二明大)・樋上善信高橋 寛愛媛大DC2012-84
抄録 (和) 半断線故障が発生すると,故障配線の信号遅延により回路性能が低下する場合がある. しかし,故障配線に信号遷移を与える検査入力を印加しても論理回路動作が正常となる場合もあり,半断線故障の検出は困難である. 本研究では,半断線故障の検出のために故障発生時の出力特性を電磁界シミュレーションを用いて調査した. 半断線故障発生時の出力信号へ影響を及ぼすと考えられる欠陥規模,隣接配線長および隣接配線への入力信号を考慮して,半断線故障を含む配線レイアウトを作成し,各要素が故障発生時の遅延時間に与える変化量を信号遅延解析結果より示す. 
(英) When a resistive open fault occurs, signal delay at the faulty wire may degrade circuit performance. However, a resistive open fault is difficult to test since some test patterns does not cause logical errors at the faulty circuit even if the pattern provides a transition at the faulty wire. In this study, we investigate the output characteristic of wires with a open fault using electromagnetic simulator for detecting resistive open faults. We apply simulation for several layouts to estimate the delay caused by the defect size, the length of adjacent lines, and different combinations of input signals at the adjacent lines. The simulated results show the effects of these parameters on the signal delay.
キーワード (和) 半断線故障 / 隣接配線 / 信号遅延 / / / / /  
(英) resistive open fault / adjacent line / signal delay / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 112, no. 429, DC2012-84, pp. 25-30, 2013年2月.
資料番号 DC2012-84 
発行日 2013-02-06 (DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード DC2012-84

研究会情報
研究会 DC  
開催期間 2013-02-13 - 2013-02-13 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) VLSI設計とテストおよび一般 
テーマ(英) VLSI Design and Test, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2013-02-DC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 半断線故障検出のための信号遅延の特性評価 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Characteristic Analysis of Signal Delay for Resistive Open Fault Detection 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 半断線故障 / resistive open fault  
キーワード(2)(和/英) 隣接配線 / adjacent line  
キーワード(3)(和/英) 信号遅延 / signal delay  
キーワード(4)(和/英) /  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 大栗 裕人 / Hiroto Ohguri / オオグリ ヒロト
第1著者 所属(和/英) 徳島大学 (略称: 徳島大)
The University of Tokushima (略称: Univ. of Tokushima)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 四柳 浩之 / Hiroyuki Yotsuyanagi / ヨツヤナギ ヒロユキ
第2著者 所属(和/英) 徳島大学 (略称: 徳島大)
The University of Tokushima (略称: Univ. of Tokushima)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 橋爪 正樹 / Masaki Hashizume / ハシヅメ マサキ
第3著者 所属(和/英) 徳島大学 (略称: 徳島大)
The University of Tokushima (略称: Univ. of Tokushima)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 堤 利幸 / Toshiyuki Tsutsumi / ツツミ トシユキ
第4著者 所属(和/英) 明治大学 (略称: 明大)
Meiji University (略称: Meiji Univ.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 山崎 浩二 / Koji Yamazaki / ヤマザキ コウジ
第5著者 所属(和/英) 明治大学 (略称: 明大)
Meiji University (略称: Meiji Univ.)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 樋上 善信 / Yoshinobu Higami / ヒガミ ヨシノブ
第6著者 所属(和/英) 愛媛大学 (略称: 愛媛大)
Ehime University (略称: Ehime Univ.)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 高橋 寛 / Hiroshi Takahashi / タカハシ ヒロシ
第7著者 所属(和/英) 愛媛大学 (略称: 愛媛大)
Ehime University (略称: Ehime Univ.)
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講演者
発表日時 2013-02-13 13:30:00 
発表時間 25 
申込先研究会 DC 
資料番号 IEICE-DC2012-84 
巻番号(vol) IEICE-112 
号番号(no) no.429 
ページ範囲 pp.25-30 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-DC-2013-02-06 


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