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講演抄録/キーワード
講演名 2013-02-13 15:50
エラートレラントアプリケーションのための論理回路簡単化における必須割当てを利用した許容故障判定法
松木伸伍亀井惇平岩垣 剛市原英行井上智生広島市大DC2012-88
抄録 (和) エラートレラントアプリケーションは,特定のLSIシステムの誤差(誤り)を許容することが可能なアプリケーションである.
エラートレラントアプリケーションを対象とした論理LSIを設計する際に,許容できる誤差を予め考慮して論理簡単化法を行う方法が考えられている[10-12].
この簡単化法の1つに,故障の許容性に基づいて削減すべき部分回路を特定する手法[12]があるが,
許容故障の判定に閾値テスト生成を行う必要があるため許容性判定に時間がかかってしまう問題がある.
本稿では,非許容故障を検出するための必須割当てを利用した許容故障判定法を提案する.
多重許容故障と必須割当てに関する3つの性質について議論した後,含意操作を用いて一部の許容故障を判定するアルゴリズムを示す.
このアルゴリズムは含意操作のみに基づいているため,閾値テスト生成を行うよりも高速に故障の許容性を判定することができる.
ベンチマークに対する計算器実験結果は提案許容性判定アルゴリズムが処理時間の短縮に貢献できることを示す. 
(英) In error tolerant applications, some specific errors, which are of certain types or have severities within certain limits, of LSIs for such applications are tolerable.
In this paper, we focus on logic optimization of circuits for error tolerant applications[10-12].
In the previous method, to identify removable portions of a logic circuit, the acceptability of stuck-at faults in the circuit is checked by
utilizing threshold test generation algorithm, even though this acceptability identification is time-consuming[12].
To accelerate of this acceptability identification, we propose an acceptability identification procedure based on
necessary assignments requires for detecting unacceptable faults. Discussing the relationship between multiple acceptable faults and necessary assignmetns, we present an algorithm, which is faster than the test-generation-based previous algorithm, to check the acceptability of faults with implication procedure.
Experimental results show that the proposed algorithm can reduce the computation effort to identify acceptable faults.
キーワード (和) 許容故障 / 論理簡単化 / 誤りの深刻さ / 許容性判定 / エラートレランス / 必須割当て / /  
(英) acceptable faults / logic optimization / error significance / acceptability identification / error tolerance / necessary assignment / /  
文献情報 信学技報, vol. 112, no. 429, DC2012-88, pp. 49-54, 2013年2月.
資料番号 DC2012-88 
発行日 2013-02-06 (DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード DC2012-88

研究会情報
研究会 DC  
開催期間 2013-02-13 - 2013-02-13 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) VLSI設計とテストおよび一般 
テーマ(英) VLSI Design and Test, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2013-02-DC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) エラートレラントアプリケーションのための論理回路簡単化における必須割当てを利用した許容故障判定法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A Method of Acceptable Fault Identification with Necessary Assignment in Logic Simplification for Error Tolerant Application 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 許容故障 / acceptable faults  
キーワード(2)(和/英) 論理簡単化 / logic optimization  
キーワード(3)(和/英) 誤りの深刻さ / error significance  
キーワード(4)(和/英) 許容性判定 / acceptability identification  
キーワード(5)(和/英) エラートレランス / error tolerance  
キーワード(6)(和/英) 必須割当て / necessary assignment  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 松木 伸伍 / Shingo Matsuki / マツキ シンゴ
第1著者 所属(和/英) 広島市立大学 (略称: 広島市大)
Hiroshima City University (略称: Hiroshima City Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 亀井 惇平 / Junpei Kamei / カメイ ジュンペイ
第2著者 所属(和/英) 広島市立大学 (略称: 広島市大)
Hiroshima City University (略称: Hiroshima City Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 岩垣 剛 / Tsuyoshi Iwagaki / イワガキ ツヨシ
第3著者 所属(和/英) 広島市立大学 (略称: 広島市大)
Hiroshima City University (略称: Hiroshima City Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 市原 英行 / Hideyuki Ichihara / イチハラ ヒデユキ
第4著者 所属(和/英) 広島市立大学 (略称: 広島市大)
Hiroshima City University (略称: Hiroshima City Univ.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 井上 智生 / Tomoo Inoue / イノウエ トモオ
第5著者 所属(和/英) 広島市立大学 (略称: 広島市大)
Hiroshima City University (略称: Hiroshima City Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2013-02-13 15:50:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 DC 
資料番号 DC2012-88 
巻番号(vol) vol.112 
号番号(no) no.429 
ページ範囲 pp.49-54 
ページ数
発行日 2013-02-06 (DC) 


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