電子情報通信学会 研究会発表申込システム
講演論文 詳細
技報閲覧サービス
技報オンライン
‥‥ (ESS/通ソ/エレソ/ISS)
技報アーカイブ
‥‥ (エレソ/通ソ)
 トップに戻る 前のページに戻る   [Japanese] / [English] 

講演抄録/キーワード
講演名 2013-01-25 15:25
微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~ 時系列変動データのモデリング (27) ~
和田真一越田圭治TMCシステム)・永井祥子慶大)・益田直樹石黒 明柳 国男久保田洋彰TMCシステム)・澤 孝一郎日本工大エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2012-99
抄録 (和) 著者らは,電気接点に実用的振動を与えうるいくつかの加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討してきた.これらの機構を用いて接点劣化現象解析を実施する過程で接触抵抗の時系列変動データを処理することが必要となり,通常のデータ処理に加えて非線形データ処理を行うことを試みた.時間分解能を上げることで,位相面解析によりこの時系列変動データには準安定なリミット・サイクル,および分岐現象が存在することを見出した.また,限界振幅近傍において位相面解析を行うことで,矩形波入力によるデータと正弦波入力によるデータには差異があることを示唆した.さらに,基本的な入力波形を組み合わせることで,疑似的なリミット・サイクルおよび分岐現象を再現できる可能性を示唆した. 
(英) Authors have developed some mechanisms which give real vibration to electrical contacts and studied the influences of a micro-oscillating on the contact resistance. Because it was necessary to deal with time-sequential data for analyzing the degradation phenomena of electrical contacts by the oscillating mechanisms, they tried to use non-linear data processing in addition to usually linear one. It is shown that there are semi-stable limit cycles and bifurcation phenomenon in the time-sequential fluctuation using phase plane analysis by raw data themselves. It is indicated that there is some differences between data by rectangular input and those by sinusoidal one using phase plane analysis at neighboring lower limits of the amplitudes of the oscillation. And it is suggested that there is possible to reproduce quasi-limit cycle and quasi-bifurcation by using the combination of some of fundamental waveforms.
キーワード (和) 電気接点 / 微小振動 / 接触抵抗 / 微摺動機構 / 最小摺動振幅 / 位相面解析 / リミット・サイクル / 分岐  
(英) electrical contact / micro-oscillation / contact resistance / micro-sliding mechanism / minimal sliding amplitude / phase plane analysis / limit cycle / bifurcation  
文献情報 信学技報, vol. 112, no. 415, EMD2012-99, pp. 9-14, 2013年1月.
資料番号 EMD2012-99 
発行日 2013-01-18 (EMD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)

研究会情報
研究会 EMD  
開催期間 2013-01-25 - 2013-01-25 
開催地(和) ゆとりうむ日立(日立労組戸塚支部労働会館) (戸塚) 
開催地(英) Hitachi, Ltd., (Totsuka, Yokohama) 
テーマ(和) 一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMD 
会議コード 2013-01-EMD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 微摺動機構による電気接点の劣化現象 
サブタイトル(和) 時系列変動データのモデリング (27) 
タイトル(英) Degradation Phenomenon of Electrical Contacts by using Micro-Sliding Mechanisms 
サブタイトル(英) Anallysis of Time-Sequential Fluctuation Data (27) 
キーワード(1)(和/英) 電気接点 / electrical contact  
キーワード(2)(和/英) 微小振動 / micro-oscillation  
キーワード(3)(和/英) 接触抵抗 / contact resistance  
キーワード(4)(和/英) 微摺動機構 / micro-sliding mechanism  
キーワード(5)(和/英) 最小摺動振幅 / minimal sliding amplitude  
キーワード(6)(和/英) 位相面解析 / phase plane analysis  
キーワード(7)(和/英) リミット・サイクル / limit cycle  
キーワード(8)(和/英) 分岐 / bifurcation  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 和田 真一 / Shin-ichi Wada / ワダ シンイチ
第1著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 越田 圭治 / Keiji Koshida / コシダ ケイジ
第2著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 永井 祥子 / Shoko Nagai / ナガイ ショウコ
第3著者 所属(和/英) 慶應義塾大学理工学部 (略称: 慶大)
Keio University (略称: Keio)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 益田 直樹 / Naoki Masuda / マスダ ナオキ
第4著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 石黒 明 / Akira Ishiguro / イシグロ アキラ
第5著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 柳 国男 / Kunio Yanagi / ヤナギ クニオ
第6著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 久保田 洋彰 / Hiroaki Kubota / クボタ ヒロアキ
第7著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) 澤 孝一郎 / Koichiro Sawa / サワ コウイチロウ
第8著者 所属(和/英) 日本工業大学 (略称: 日本工大)
Nippon Institute of Technology (略称: NIT)
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第9著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第10著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第11著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第12著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第13著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第14著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第15著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第16著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第17著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第18著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第19著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第20著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
講演者
発表日時 2013-01-25 15:25:00 
発表時間 25 
申込先研究会 EMD 
資料番号 IEICE-EMD2012-99 
巻番号(vol) IEICE-112 
号番号(no) no.415 
ページ範囲 pp.9-14 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-EMD-2013-01-18 


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会