講演抄録/キーワード |
講演名 |
2013-01-16 16:00
オンチップ・リークモニタによるランタイム・パワーゲーティングの制御にむけた損益分岐点の評価 ○松永健作・工藤 優(芝浦工大)・太田雄也,小西奈緒(芝浦工大)・天野英晴(慶大)・坂本龍一・並木美太郎(東京農工大)・宇佐美公良(芝浦工大) VLD2012-118 CPSY2012-67 RECONF2012-72 |
抄録 |
(和) |
消費電力の削減技術のひとつであるランタイム・パワーゲーティングはリーク電力を低減させることができるが、スリープさせたときと非スリープ時の電力が等しくなる損益分岐時間(BET)を求めることで効果的に削減できる。BETはリーク電流量に依存するためリーク電流をチップ上で測定することが求められる。本研究ではリーク電流を測定できるリークモニタを実装した65nmプロセスの試作チップを用いて測定を行い、各演算器のBETとリークモニタの出力結果との関係を示した。さらにこの関係を用いて、チップの動作中に様々な温度でBETが求められることを示す。 |
(英) |
Run-time Power Gating (RTPG) reduces leakage energy by turning off a power switch(PS) for idle periods of a circuit during the operation. To get energy savings in RTPG, power gating needs to be enabled only when the idle time exceeds the break-even time (BET) at which leakage energy reduction by turning off PS becomes equal to the energy overhead. Since BET changes with leakage current,on-line detection of BET is required for RTPG controls. We implemented an on-chip leakage monitor in 65nm CMOS technology, and showed the relation between BET of each computing unit , and leakage current. |
キーワード |
(和) |
オンチップ・リークモニタ / ランタイム・パワーゲーティング / 損益分岐点 / / / / / |
(英) |
On-chip Leakage monitor / Run-time Power Gating / Break Even Time / / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 112, no. 375, VLD2012-118, pp. 63-68, 2013年1月. |
資料番号 |
VLD2012-118 |
発行日 |
2013-01-09 (VLD, CPSY, RECONF) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
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