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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2012-12-21 15:45 ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ～ ハンマリング加振機構の特性に関する基礎的検討 (26) ～ ○和田真一・越田圭治・サインダー ノロブリン（TMCシステム）・益田直樹（東京高専）・柳 国男・久保田洋彰（TMCシステム）・寺崎真志（東京高専）・澤 孝一郎（日本工大）  EMD2012-95 エレソ技報アーカイブへのリンク：EMD2012-95 |
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| 抄録 | （和） | 著者らは，いくつかの加振機構(ハンマリング加振機構，微摺動機構，タッピング・デバイスなど)により，実際の微小振動による電気接点の影響を検討してきた．本論文では，まず，金属球落下による方法とハンマリング加振機構による方法とを用いて，被加振物に与える加速度および加振力に関して比較し，後者においてその測定値の分散が小さいことを示す．次に，ハンマリング加振機構を用いて，プリント回路基板(PCB)上に設置した電子デバイスにおける有効質量・有効加振力・有効加速度を見積ることができる簡単で実際的な方法を提案する．さらに，有効加振力と乾性摩擦力から，微小振動下における電気接点の劣化機構について考察し，両者に相関関係があることを示唆する．最後に，有効加速度が，被加振物が集中衝撃加振力を受けた場合の過渡応答特性を有していると仮定し，系の減衰係数比・固有振動数を見積る． |
| （英） | Authors have studied the influence on electrical contacts by actual micro-oscillation using some oscillating mechanisms (Hammering Oscillating Mechanism, Micro-Sliding Mechanism, Tapping Device etc.). In this paper, first, the authors compare cyclic metal ball drop test with hammering oscillating mechanism on the performance of acceleration and force for the hammered object, and show that the distribution of the data by the latter is much smaller than the former. Second, they propose a simple and practical protocol to estimate an effective mass, effective force and effective acceleration of the electrical devices on the PCB (printed circuit board) using hammering oscillating mechanism. Third, they discuss the degradation mechanism on electrical contacts under the influence of micro-oscillation from the effective force and the frictional force, and indicate the correlation between the former and the latter. Finally, they estimate the damping ratio and natural frequency of the system on the assumption that there is transient response characteristic with impulsive concentric load in the effective acceleration. | |
| キーワード | （和） | 電気接点 / 微小振動 / 接触抵抗 / ハンマリング加振機構 / 乾性摩擦力 / 有効質量 / 有効加振力 / 有効加速度 |
| （英） | electrical contact / micro-oscillation / contact resistance / hammering oscillating mechanism / frictional force / effective mass / effective force / effective acceleration | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 112, no. 370, EMD2012-95, pp. 27-32, 2012年12月. | |
| 資料番号 | EMD2012-95 | |
| 発行日 | 2012-12-14 (EMD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMD2012-95 エレソ技報アーカイブへのリンク：EMD2012-95 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMD |
| 開催期間 | 2012-12-21 - 2012-12-21 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | 一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMD |
| 会議コード | 2012-12-EMD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 |
| サブタイトル（和） | ハンマリング加振機構の特性に関する基礎的検討 (26) |
| タイトル（英） | Degradation Phenomenon of Electrical Contacts using hammering oscillating mechanism and micro-sliding mechanism |
| サブタイトル（英） | A fundamental study on the performance of the hammering oscillating mechanism (26) |
| キーワード(1)（和/英） | 電気接点 / electrical contact |
| キーワード(2)（和/英） | 微小振動 / micro-oscillation |
| キーワード(3)（和/英） | 接触抵抗 / contact resistance |
| キーワード(4)（和/英） | ハンマリング加振機構 / hammering oscillating mechanism |
| キーワード(5)（和/英） | 乾性摩擦力 / frictional force |
| キーワード(6)（和/英） | 有効質量 / effective mass |
| キーワード(7)（和/英） | 有効加振力 / effective force |
| キーワード(8)（和/英） | 有効加速度 / effective acceleration |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 和田 真一 / Shin-ichi Wada / ワダ シンイチ |
| 第1著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 (略称： TMCシステム) TMC System Co. Ltd. (略称： TMC) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 越田 圭治 / Keiji Koshida / コシダ ケイジ |
| 第2著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 (略称： TMCシステム) TMC System Co. Ltd. (略称： TMC) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | サインダー ノロブリン / Saindaa Norovling / サインダー ノロブリン |
| 第3著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 (略称： TMCシステム) TMC System Co. Ltd. (略称： TMC) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 益田 直樹 / Naoki Masuda / マスダ ナオキ |
| 第4著者 所属（和/英） | 東京工業高等専門学校 (略称： 東京高専) Tokyo National College of Technology (略称： TCT) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 柳 国男 / Kunio Yanagi / ヤナギ クニオ |
| 第5著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 (略称： TMCシステム) TMC System Co. Ltd. (略称： TMC) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 久保田 洋彰 / Hiroaki Kubota / クボタ ヒロアキ |
| 第6著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 (略称： TMCシステム) TMC System Co. Ltd. (略称： TMC) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | 寺崎 真志 / Masashi Terasaki / テラサキ マサシ |
| 第7著者 所属（和/英） | 東京工業高等専門学校 (略称： 東京高専) Tokyo National College of Technology (略称： TCT) |
| 第8著者 氏名（和/英/ヨミ） | 澤 孝一郎 / Koichiro Sawa / サワ コウイチロウ |
| 第8著者 所属（和/英） | 日本工業大学 (略称： 日本工大) Nippon Institute of Technology (略称： NIT) |
| 第9著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2012-12-21 15:45:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | EMD |
| 資料番号 | EMD2012-95 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | no.370 |
| ページ範囲 | pp.27-32 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2012-12-14 (EMD) |
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