講演抄録/キーワード |
講演名 |
2012-12-18 15:10
横型pinフォトダイオードの光応答電流モデルの開発 ○井村洋介・井瀬 潔(鈴鹿高専) ICD2012-121 エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2012-121 |
抄録 |
(和) |
横型pinフォトダイオードの光応答電流特性を表現するデバイスモデルを開発した.本モデルは,i層の長さLの依存性およびp+層とn+層間にかける逆バイアスVの依存性を表現できる.光入射によりi層に生成したキャリアは,i層にできる空乏層lpの中はドリフトで移動,i層の空乏層以外すなわちL-lpの中は拡散で移動すると考えた.拡散領域ではキャリアの拡散方程式を固有関数展開法で解き,ドリフト領域では空乏層内の電界を一定と仮定した.モデル式による応答電流は,Lが長くなると光応答電流波形は光の入射波形と異なってくることを表現できている |
(英) |
We have developed the device model which can characterize the optical
response current of lateral p-i-n photodiode. This model can express the
dependence of the length L of the intrinsic region and the dependence of
the applied DC reverse bias V between p+ and n+ regions. This model
divides the intrinsic region into two regions, i.e., the drift and
diffusion ones, and this model assumes that the carriers, namely the
electron and hole generated due to a light pulse, flow by drift in the
depletion region lp and they flow by diffusion in the intrinsic region
except lp (i.e. L-lp). The diffusion equation of carrier is solved by
the Eigenfunction Expansion Method in diffusion region, and the
assumption that the electric field is constant is used in the depletion
region. The photo current calculated by this model shows that the shape
of current differs more and more from the shape of light pulse as the
length L becomes longer and longer. |
キーワード |
(和) |
横型pinフォトダイオード / 光応答電流特性 / デバイスモデル / / / / / |
(英) |
lateral p-i-n photodiode / optical response current / device model / / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 112, no. 365, ICD2012-121, pp. 133-138, 2012年12月. |
資料番号 |
ICD2012-121 |
発行日 |
2012-12-10 (ICD) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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