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| 講演名 | 2012-12-17 15:55 ［ポスター講演］0.18μmCMOSプロセスを用いたパッチクランプ測定システムの設計 ○中山 渉・大野隆一・安田陽平・川島拓也・中野誠彦（慶大）  ICD2012-110 エレソ技報アーカイブへのリンク：ICD2012-110 |
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| 抄録 | （和） | 神経細胞の解析手段として細胞のイオン電流を測定できるパッチクランプ法があり、今後の研究のために測定システムの小型化が必要とされている.本研究では0.18$\mu$mCMOSプロセスを用いたパッチクランプ測定システム用LSIを設計した.システムには電流信号を電圧に変換するI-Vコンバータ、ピペット-細胞間の寄生直列抵抗成分を補償する抵抗補償システム、ピペットの寄生容量を補償する容量補償システムが含まれる.容量補償システムは最大で70 pFまでのピペット容量の補償を可能とした.また細胞膜電位を固定する外部信号${\rm V}_{CMD}$は、寄生直列抵抗成分を20 M$\Omega$と想定した場合、その寄生成分によって帯域を1.41 kHzに制限される。再設計した抵抗補償システムはこれを2.35 kHzに伸ばした. |
| （英） | The Patch Clamp, which can measure ion-channel current of membrane, is one of the way to analyze the neuron and its measurement system is required to be minimized. We designed LSI Measurement system for Patch Clamp using 0.18$\mu$m CMOS process. This system includes following block ; I-V Converter for converting current to voltage , ${\rm R_s}$ compensation system for compensating pipette-cell parasitic serial resistance , and ${\rm C_p}$ compensation system for compensating pipette parasitic capasitance. Capacitance Compensation system can compensate up to 70pF.When ${\rm R_s}$ is 20MΩ,the freaquency range of input Voltage ${\rm V}_{CMD}$ is limited to1.41kHz cause of the parasitics. Resistance Compensation system expanded its freaquency range up to 2.35kHz. | |
| キーワード | （和） | パッチクランプ / 抵抗補償 / 容量補償 / / / / / |
| （英） | Patch-Clamp / Resistance-Compensation / Capacitance-Compensation / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 112, no. 365, ICD2012-110, pp. 73-76, 2012年12月. | |
| 資料番号 | ICD2012-110 | |
| 発行日 | 2012-12-10 (ICD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | ICD2012-110 エレソ技報アーカイブへのリンク：ICD2012-110 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD |
| 開催期間 | 2012-12-17 - 2012-12-18 |
| 開催地（和） | 東工大蔵前会館 ロイアルブルーホール |
| 開催地（英） | Tokyo Tech Front |
| テーマ（和） | 学生・若手研究会 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | ICD |
| 会議コード | 2012-12-ICD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 0.18μmCMOSプロセスを用いたパッチクランプ測定システムの設計 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Design of Patch Clamp Measurement System using 0.18μm CMOS Technology |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | パッチクランプ / Patch-Clamp |
| キーワード(2)（和/英） | 抵抗補償 / Resistance-Compensation |
| キーワード(3)（和/英） | 容量補償 / Capacitance-Compensation |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 中山 渉 / Wataru Nakayama / ナカヤマ ワタル |
| 第1著者 所属（和/英） | 慶應義塾大学 (略称： 慶大) Keio University (略称： Keio Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 大野 隆一 / Ryuich Ohno / オオノ リュウイチ |
| 第2著者 所属（和/英） | 慶應義塾大学 (略称： 慶大) Keio University (略称： Keio Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 安田 陽平 / Yohei Yasuda / ヤスダ ヨウヘイ |
| 第3著者 所属（和/英） | 慶應義塾大学 (略称： 慶大) Keio University (略称： Keio Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 川島 拓也 / Takuya Kawashima / カワシマ タクヤ |
| 第4著者 所属（和/英） | 慶應義塾大学 (略称： 慶大) Keio University (略称： Keio Univ.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 中野 誠彦 / Nobuhiko Nakano / ナカノ ノブヒコ |
| 第5著者 所属（和/英） | 慶應義塾大学 (略称： 慶大) Keio University (略称： Keio Univ.) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2012-12-17 15:55:00 |
| 発表時間 | 120分 |
| 申込先研究会 | ICD |
| 資料番号 | ICD2012-110 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | no.365 |
| ページ範囲 | pp.73-76 |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2012-12-10 (ICD) |
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